Skip to main content
Denna sida visas med automatisk översättning. Visa på engelska istället?
sidovy av chip ombord med blå bakgrund
Tessent Advanced DFT

Tessent TestKompress

Uppnå högsta kvalitet inbäddat deterministiskt skanningstest med lägsta tillverkningstestkostnad med Tessent TestKompress.

Varför Tessent TestKompress?

Tessent TestKompress, ett branschledande skanningstestverktyg, använder Embedded Deterministic Test-teknik för att uppnå högsta testkvalitet samtidigt som skanningsmönster komprimeras ofta 100X eller mer.

Högsta defekttäckning

TestKompress stöder alla traditionella felmodeller som används för att avslöja både statiska och dynamiskt aktiverade defekter. Stöd för användardefinierade felmodeller gör det också möjligt att modellera och rikta praktiskt taget alla defektmekanismer.

Helt automatiserad

TestKompress erbjuder omfattande automatisering, TCL-baserad skript och introspektionsfunktioner. För att maximera genomströmningen kan automatisk testmönstergenerering (ATPG) distribueras över flera processorer.

Lägre testtid och mönsterantal

Byggd på den patenterade tekniken Embedded Deterministic Test (EDT), Tessent TestKompress minskar både testtid och mönstervolym med flera storleksordningar utan förlust av feltäckning.

Fråga en expert - Man och kvinna som har ett samråd på ett kontor.

Är du redo att lära dig mer om Tessent?

Vi står redo att svara på dina frågor.

Läs mer