Tessent MemoryBist tillhandahåller en komplett lösning för hastighetstest, diagnos, reparation, felsökning och karakterisering av inbäddade minnen. Med hjälp av en flexibel hierarkisk arkitektur kan inbyggd självtest och självreparation integreras i enskilda kärnor såväl som på toppnivå.
Tessent MemoryBist, ett branschledande minnesinbyggt självtest, innehåller ett unikt omfattande automatiseringsflöde som tillhandahåller kontroll av designregler, testplanering, integration och verifiering allt på RTL- eller gate-nivå.
Tessent MemoryBist ECC förbättrar tillförlitligheten, förbättrar testkvaliteten och skyddar mot åldrande defekter. Dess anpassningsbara pass/fail-kriterier möjliggör en optimal kombination av minnesredundans och felkorrigerande kod.
Tessent MemoryBist NVM ger flexibel test och reparation, minskar tillverkningstestkostnaderna och förbättrar tillförlitligheten. Automatiserade NVM-specifika algoritmer möjliggör specialiserade åtkomstlägen och fungerar med ECC-alternativet. Tillgänglig. tidigt 26
Den avancerade BAP tillhandahåller ett konfigurerbart gränssnitt för att optimera testning i systemet. Det stöder också ett protokoll med låg latens för att konfigurera MINNESBIST-styrenheten, utföra GO/NoGo-tester och övervaka godkänd/misslyckad status.
Minnestestalgoritmer kan hårdkodas i Tessent MemoryBist-styrenheten och sedan appliceras på varje minne genom körtidskontroll. Detta gör att du kan välja kortare testalgoritmer när tillverkningsprocessen mognar.
Reparationsalternativet Tessent MemoryBist eliminerar komplexiteten och kostnaderna i samband med externa reparationsflöden. Den testar och reparerar permanent alla defekta minnen i ett chip med praktiskt taget inga externa resurser.
Se Etienne Racine, Tessents produktchef, prata om hur Tessent MemoryBist kan hjälpa till att maximera testkvaliteten, minimera testtiden, förbättra utbytet och reparera minnen med sin flexibla arkitektur.
Lär dig hur Tessents programvara gör att du kan anpassa dig till nya standarder och föreskrifter samtidigt som du erbjuder en komplett uppsättning helhetslösningar för att möta kraven i dagens utveckling av fordons-IC.
Denna uppsats beskriver fördelarna med att använda en delad bussarkitektur för att testa och reparera minnen inom iPS-kärnor och presenterar automatiseringen som finns tillgänglig i Tessent MemoryBist.
Denna fallstudie beskriver hur ON Semiconductor använde det hierarkiska Tessent MemoryBist-flödet för att minska minnesBIST-infogningstiden med 6X.
