Varför Tessent LogicBist?
Tessent LogicBist integreras effektivt med Tessent MissionMode och Tessent TestKompress för att skapa en komplett testlösning i systemet och tillverkningen för säkerhetskritiska enheter.
Förbättrar testtäckningen
Tessent VersaPoint-testpunktstekniken är konstruerad för hybrid TK/LBIST applikationer och förbättrar ATPG-mönsterantalet och logiska BIST testbarhet samtidigt, vilket förbättrar LBIST-täckningen med 2% -4%.
Uppfyller testtiden i systemet
Genom att observera kretsdata vid varje skiftcykel, inte bara vid fångst, minskar Observation Scan Technology (OST) avsevärt mönsterantalet som behövs för att nå mållogisk BIST-testtäckning.
Ökar testeffektiviteten
Tessent Hybrid TK/LBIST kombinerar effektivt den logiska arkitekturen i Tessent TestKompress och LogicBist för att förbättra testkvaliteten samtidigt som man undviker områdesstraff, vilket skördar fördelarna med både ATPG-komprimering och logisk BIST.
Infineon minskar LBIST-testtiden till funktionssäkerhet
I den här presentationen visar Daniel Tille från Infineon användningen av LogicBist med Observation Scan Technology, vilket har visat sig drastiskt minska logiskt inbyggt självtest (LBIST) testtid för Infineon Automotive mikrokontroller (MCU).
