Kontinuerlig testning och övervakning av enheter krävs för att garantera optimal prestanda, tillförlitlighet och säkerhet under hela driften. Tessent In-System Test möjliggör tillämpning av högkvalitativa deterministiska testmönster för testning i system/i fält under ditt chips livscykel.
Tessent In-System Test tillhandahåller den inbäddade hårdvaran och nödvändig programvara för att möjliggöra tillämpning av högkvalitativa deterministiska testmönster samtidigt som testtiden minskas jämfört med traditionell logik BIST.
Deterministiskt test i systemet gör att du kan ändra testmönster när nya defekter och felmodeller dyker upp eller när testinnehållets behov förändras.
Teststyrenheten i systemet hämtar data från bussgränssnitt och driver Streaming Scan Network-bussnätverket internt för att applicera skanningsdatapaket på kärnor för testning, vilket sänker testtiden och förbättrar effektprofilen under testet.
Återanvänder befintlig testinfrastruktur på chip för att rikta in sig på latenta, intermittenta, slumpmässiga eller åldersrelaterade defekter under produktens livslängd genom att möjliggöra återanvändning av IJTAG- och SSN-baserade mönster för applikationer i systemet.
Levererar helautomatiska maskinvaru- och programvarufunktioner som behövs för att reagera på åldrande och miljöfaktorer som manifesteras som tysta dataferrors/korruption. Testinnehållet kan ändras i takt med att testkraven utvecklas.
Tessent In-System Test (IST) lanserades vid ITC 2024 och kompletterar Tessent Streaming Scan Network (SSN) och förbättrar dess förmåga att användas i en miljö i systemet, i fältet, vilket utökar den avancerade tekniken som Tessent SSN tillhandahåller. Designers kan tillämpa inbäddade deterministiska testmönster (EDT) genererade med Tessent SSN-programvara via SSN-bussen direkt med hjälp av teststyrenheten i systemet.
Tessent In-System Test integrerar in-system deterministic test (IS-EDT) med Tessent Streaming Scan Network för att göra det möjligt för användare att köra deterministiska mönster i systemet. Även om efterfrågan på IS-EDT-mönster är avgörande inom bilindustrin, gynnar denna teknik också datacenter- och nätverksdesign. Detta dokument beskriver hur Tessent In-System Test uppfyller behoven för testning i systemet och i fältet.
Lär dig hur Tessents programvara gör att du kan anpassa dig till nya standarder och föreskrifter samtidigt som du erbjuder en komplett uppsättning helhetslösningar för att möta kraven i dagens utveckling av fordons-IC.
Läs mer om den växande rollen som innovation inom design av integrerade kretsar (IC) spelar i den digitala omvandlingen i detta white paper.
