En person står framför en stor skärm som visar en färgstark abstrakt design.

Tessent Advanced DFT

Tessent BoundaryScan

Tessent BoundaryScan är en komplett lösning för automatiserad generering och integration av testinfrastruktur på chip, gränsskanning och teståtkomstport.

Varför Tessent BoundaryScan?

Tessent BoundaryScan-logik kan nås under hela IC-enhetens livslängd, inklusive tillverkningstest på alla paketnivåer, kiselfelsökning och systemverifiering för att upptäcka defekter före leverans, minska fältsupportkostnader och öka kundnöjdheten.

Komplett gränsskanning och integrering av TAP-styrenhet

Genererar och integrerar automatiskt RTL-kod för TAP-styrenheten och gränsskanningscellerna i design-RTL. Genererar skript för logisk syntes, simuleringstestbänkar och testmönster för tillverkningstest.

Stöder flera format

Tessent Boundary scan stöder IEEE 1149.1 anpassade gränsskanningsceller och kontaktlöst I/O-test och har ett alternativ för 1149.6-gränsskanningsstöd.

IEEE 1687 IJTAG interoperabilitet

Ansluter automatiskt IJTAG-nätverk och instrument till den nyligen infogade TAP-styrenheten och genererar resulterande språkfiler för instrumentanslutning. I/O-tester genereras i PDL-format (Procedural Description Language).

Läs mer

Presentation

Tessent inbäddad gränsskanning

Den här videon visar implementeringsflödet av Tessent Boundary Scan (1149.1) på toppnivå och Tessent Embedded Boundary Scan på den fysiska blocknivån i Tessent Shell.

Kretskortdiagram med färgade block och anslutningslinjer som representerar elektroniska komponenter och vägar.

Konvertering av gränssökningsspråk Beskrivning

På mindre än fem minuter visar videon hur man kan använda Tessent IJTAG för att enkelt konvertera en BSDL (Boundary Scan Description Language) fil till dess ICL (Instrument Connectivity Language) filekvivalent.

Ett diagram som visar användningen av gränsskanning för automatisk testmönstergenerering.

Teknisk översikt

Användning av gränsskanningskedja under ATPG

Den här videon visar användningen av gränsskanning som komprimerad eller okomprimerad kedja under ATPG så att alla stift på enheten som testas (DUT) inte behöver kontaktas.

Människor som tittar på maskininlärning eller djupinlärningsdiagram

Inlärningsväg

Tessent Träning > Tessent Integrerat flöde

Lär dig hur du implementerar MBIST, BoundaryScan, IJTAG, Scan Insertion och TestKompress i din design för att få hög testkvalitet med flera Tessent-verktyg.