Skip to main content
Denna sida visas med automatisk översättning. Visa på engelska istället?

Varför Tessent BoundaryScan?

Tessent BoundaryScan-logik kan nås under hela IC-enhetens livslängd, inklusive tillverkningstest på alla paketnivåer, kiselfelsökning och systemverifiering för att upptäcka defekter före leverans, minska fältsupportkostnader och öka kundnöjdheten.

Komplett gränsskanning och integrering av TAP-styrenhet

Genererar och integrerar automatiskt RTL-kod för TAP-styrenheten och gränsskanningscellerna i design-RTL. Genererar skript för logisk syntes, simuleringstestbänkar och testmönster för tillverkningstest.

Stöder flera format

Tessent Boundary scan stöder IEEE 1149.1 anpassade gränsskanningsceller och kontaktlöst I/O-test och har ett alternativ för 1149.6-gränsskanningsstöd.

IEEE 1687 IJTAG interoperabilitet

Ansluter automatiskt IJTAG-nätverk och instrument till den nyligen infogade TAP-styrenheten och genererar resulterande språkfiler för instrumentanslutning. I/O-tester genereras i PDL-format (Procedural Description Language).

Fråga en expert - Man och kvinna som har ett samråd på ett kontor.

Är du redo att lära dig mer om Tessent?

Vi står redo att svara på dina frågor.

Fråga en expert

Läs mer

Kretskortdiagram med färgade block och anslutningslinjer som representerar elektroniska komponenter och vägar.
all

Konvertering av gränssökningsspråk Beskrivning

På mindre än fem minuter visar videon hur man kan använda Tessent IJTAG för att enkelt konvertera en BSDL (Boundary Scan Description Language) fil till dess ICL (Instrument Connectivity Language) filekvivalent.

Ett diagram som visar användningen av gränsskanning för automatisk testmönstergenerering.
Teknisk översikt
all

Användning av gränsskanningskedja under ATPG

Den här videon visar användningen av gränsskanning som komprimerad eller okomprimerad kedja under ATPG så att alla stift på enheten som testas (DUT) inte behöver kontaktas.