Varför Tessent AnalogTest?
Att testa analoga kretsar har traditionellt varit en tråkig, manuell process. Tessent AnalogTest möjliggör 10x-100x minskning av kiselanalog testtid jämfört med traditionella specifikationstester.
Minska testkostnaden
Analog testning kräver långa testtider på dyra blandade signaltestare. Tessent AnalogTest genererar DFT-kretsar med minimal påverkan och digitala testmönster för att testa analogt kretsblock på <1 ms på endast digitala testare.
Öka ingenjörseffektiviteten
Tessent AnalogTest omvandlar analog DFT och testutveckling till en snabb, automatiserad process. Struktur- och specifikationstester verifieras i simulering innan de körs på ATE eller i systemet, vilket minskar felsökningstiden.
Maximera den analoga testtäckningen
Specifikationstestning av analoga kretsar kan ha lägre testtäckning för att minimera avkastningsförlusten. Digital skanningsbaserad DFT och ATPG kan ge simulerade testmönster som uppnår högre defekttäckning utan att öka avkastningsförlusten.
Minska tiden till marknaden med Tessent AnalogTest-täckning
Ta reda på hur du minimerar tillverkningstester för analoga och blandade signalkretsar och förbättrar produktens tid till marknaden med Tessent AnalogTest.

