Skip to main content
Denna sida visas med automatisk översättning. Visa på engelska istället?
AnalogTest mikrochip.
Tessent Advanced DFT

Tessent AnalogTest

Tessent AnalogTest minskar utvecklingen och verifieringen av analoga testmönster från ingenjörsmånader till tekniska timmar. Som den enda kommersiella lösningen som för närvarande finns är det det mest effektiva sättet att maximera defekttäckningen samtidigt som testkostnaden minskas.

Varför Tessent AnalogTest?

Att testa analoga kretsar har traditionellt varit en tråkig, manuell process. Tessent AnalogTest möjliggör 10x-100x minskning av kiselanalog testtid jämfört med traditionella specifikationstester.

Minska testkostnaden

Analog testning kräver långa testtider på dyra blandade signaltestare. Tessent AnalogTest genererar DFT-kretsar med minimal påverkan och digitala testmönster för att testa analogt kretsblock på <1 ms på endast digitala testare.

Öka ingenjörseffektiviteten

Tessent AnalogTest omvandlar analog DFT och testutveckling till en snabb, automatiserad process. Struktur- och specifikationstester verifieras i simulering innan de körs på ATE eller i systemet, vilket minskar felsökningstiden.

Maximera den analoga testtäckningen

Specifikationstestning av analoga kretsar kan ha lägre testtäckning för att minimera avkastningsförlusten. Digital skanningsbaserad DFT och ATPG kan ge simulerade testmönster som uppnår högre defekttäckning utan att öka avkastningsförlusten.

Fråga en expert - Man och kvinna som har ett samråd på ett kontor.

Är du redo att lära dig mer om Tessent?

Vi står redo att svara på dina frågor.

Minska tiden till marknaden med Tessent AnalogTest-täckning

Ta reda på hur du minimerar tillverkningstester för analoga och blandade signalkretsar och förbättrar produktens tid till marknaden med Tessent AnalogTest.