Tessent produkter

Tessent AnalogTest minskar utvecklingen och verifieringen av analoga testmönster från ingenjörsmånader till tekniska timmar. Det är det mest effektiva sättet att maximera defekttäckningen samtidigt som testkostnaden minskas.

Tessent In-System Test tillhandahåller den inbäddade hårdvaran och nödvändig programvara för att möjliggöra tillämpning av högkvalitativa deterministiska testmönster samtidigt som testtiden minskas jämfört med traditionell logik BIST.

Leverera deterministiskt skanningstest av högsta kvalitet med lägsta tillverkningstestkostnad, med patenterad komprimering på chip för att minska testdatavolymen och minska testtiden.

Automatisera generering och införande av IEEE 1838-kompatibel hårdvara och definiera IEEE-teståtkomstarkitekturen för 3D-staplade integrerade kretsar.

Minska DFT-utvecklingstiden och tillverkningstestkostnaderna genom att koppla bort DFT-krav på kärnnivå och chip-nivå med Tessent Streaming Scan Network (SSN).

Möjliggör omfattande automatisering och integration av test, reparation, felsökning och karakterisering av inbäddade minnen med Tessent MemoryBist.

Aktivera ISO 26262-överensstämmelse med den ideala logiska inbyggda självtestlösningen för säkerhetskritiska enheter som kretsar som används i fordons- och medicinska tillämpningar.

Kombinera automatisering och IP på chip för att möjliggöra IC-test och diagnos när som helst under fordonets funktionella drift — ett grundläggande krav i ISO 26262-standarden.

Minska DFT-implementeringsarbetet med en optimal automatisering av Tessent Platform-flödet för hierarkisk DFT.

Förbättra testkomprimeringsnivåerna upp till 4X, aktivera hierarkisk DFT, logisk BIST-beredskap och skanningsinsättning med Tessent ScanPro.

Effektivisera ett brett utbud av kritiska DFT-uppgifter med denna nya programvara utvecklad för IC-designteam.

Förenkla processen att generera kompakta testuppsättningar med hög täckning. Tessent FastScans förmåga att tillämpas på de flesta typer av design gör den till den mest mångsidiga ATPG-lösningen som finns tillgänglig.

Tillhandahålla automatisering och integration för IEEE 1687 IJTAG-kompatibel test och instrumentering IP från olika källor till en IC-design.

Automatisera tillägget av IEEE 1149.1-standardgränsskanningsstöd till IC-enheter av alla storlekar och komplexiteter, vilket minskar utvecklingsinsatsen och förbättrar tiden till marknaden.

Simulera defekter på transistornivå för analoga, blandade signaler och icke-skannade digitala kretsar, automatisera täckningsbedömningen för att uppfylla kvalitetsstandarder som ISO 26262.

Tessent IJTAG Pro minskar testkostnaderna drastiskt genom att påskynda lastning/lossning av IJTAG-mönster, avgörande för chipletter, 2,5/3DIC-konstruktioner och kan tillämpas på andra testapplikationer via Tessent SSN. Det förbättrar IJTAG.

Använd layout-medvetna och cellmedvetna diagnostekniker för att korrekt klassificera och identifiera platsen för defekter som orsakar fel under tillverkningstester.

Påskynda testkörning, felsökning och kiselkarakterisering av enheter som innehåller Tessent ATPG-, EDT-, BIST- och/eller IJTAG-teststrukturer i en automatiserad interaktiv miljö.

Eliminera buller från diagnosdata för att fastställa de bakomliggande orsakerna, identifiera systematiska avkastningsbegränsare och välja de bästa enheterna för felanalys.

End-to-end RISC-V-felsöknings- och spårningslösning bestående av inbäddad IP och programvara utformad för att ge omfattande, effektiva felsöknings- och spårningsfunktioner.

Omfattande funktionell övervakningslösning för synlighet av komplext SoC-beteende, bestående av konfigurerbara IP-adresser, C++/Python API:er och ett verktyg för generering av delsystem, som kan påskynda felsökning, validering och optimering av komplexa SoC: er

Tillåt applikationsprogramvara som körs på en SoC för att övervaka verksamheten effektivt. Låt produkterna successivt förfinas och optimeras baserat på data som samlats in i verklig användning - inte bara i labbet.

Säkerställ högsta tillverkningstestkvalitet med Tessents lösningar. Maximera antalet upptäckta fysiska defekter i din testlösning för noll defekter.

Minska riskerna och uppfylla nödvändiga säkerhetsstandarder med omfattande system för test- och felklassificeringslösningar, vilket säkerställer att din produkt är helt kompatibel för de säkerhetskritiska tillämpningar som den är konstruerad för.

Implementera en omfattande säkerhetslösning för din IC-produkt som adresserar autentisering, kommunikation, skydd och hantering av enhetens livscykel över test, funktionell drift och säkerhet på systemnivå.

Diagnosera och analysera fel- och avkastningsdata för enskilda kundreturer eller volymproduktionsdata. Få värdefull design- och processfeedback för att förbättra tillförlitligheten i framtida processer och konstruktioner.