Tessent-evenemang

Lär dig hur digitala skanningstester och ATPG kan tillämpas på A/MS-kretsar, för att uppnå hög defekttäckning och minimera testtiden, med storleksordningar.

Upptäck hur inbäddad programvara, som körs på målkisel, kan ge ett överlägset alternativ till att extrahera mer insikter från chipmonitorer och felsökningsstrukturer för analys och optimering.

Detta webbseminarium introducerar Tessent Streaming Scan Network (SSN), en DFT-lösning som dramatiskt förenklar och påskyndar DFT-planering och implementering genom automatisering och plug & play-metoder för att leverera snabb tid till marknaden.

Peter Shields, produktchef, Tessent, ger en expertinsikt om RISC-V-spårningsstandarden och visar hur implementeringen av standarden bidrar till att minska riskerna med att anta RISC-V.

Missa inte detta webbseminarium, introducerar och demonstrerar den nya Tessent Multi-die-programvaran som levererar omfattande automatisering för de mycket komplexa DFT-uppgifterna som är förknippade med de senaste 2.5D- och 3D-IC-designerna.

Lär dig hur du kan möta de utmaningar som säkerhetskritiska ADAS-system introducerar för halvledarkonstruktörer när det gäller att uppfylla funktionella säkerhetskrav definierade av ISO 26262-standarden.

Gå med i detta webbseminarium för att lära dig hur Tessent SiliconInsight löser utmaningarna med kiseluppbyggnad för förbättrad avkastningsramp och tid till marknaden.

Titta på detta webbseminarium på begäran av Siemens och PDF Solutions tekniker för att lära dig mer om vår integrerade, omfattande helhetslösning som inkluderar analys, skanningsdiagnos och maskininlärning.

Nya metoder och verktyg för SoC DFT kan förenkla de problem som introduceras av teknik, design och systemskalning. Lär dig hur du minskar risken och förbättrar time-to-market med en mer förutsägbar och pålitlig DFT-lösning.

Titta på detta webbseminarium när som helst om att effektivt hantera utmaningen att säkra anslutna och autonoma fordon.

Ställ in för att höra ledare inom området diskutera tekniska utmaningar när det gäller att designa AI-chips. Gajinder Panesar, Siemens Fellow, berättar om värdet av Embedded Analytics för att hjälpa AI- och ML-chips att nå sin potential.

Optimera SoC-prestanda och utför prediktivt underhåll på fältet. En djupgående dataövervakningsmetod erbjuder radikala förbättringar av tiden till intäkter, produktkvalitet, tillförlitlighet och säkerhet och lönsamhet.

Titta på detta webbseminarium på begäran för att lära dig mer om reversibel skanningskedjeteknik och hur den förbättrade diagnostiska upplösningen med 4X i en industriell fallstudie.