
Utnyttja data på systemnivå för att optimera många AI-chips
De nya flerkärniga arkitekturerna för SoC för maskininlärning (ML) och artificiell intelligens (AI) -applikationer förväntas leverera enorma förbättringar i energieffektivitet.
Tessent Embedded Analytics-lösningen kan användas för att producera hälso- och driftmätvärden under hela livscykeln för en SoC. Inbäddad programvara baserad på Tessent Embedded SDK kan driva Tessent Embedded Analytics smarta skärmar för att skapa ett fristående övervakningssystem på chipet.
Upptäck Tessent Silicon Lifecycle Solutions från design för testbarhet (DFT) till livscykelövervakning för pålitliga elektroniska system i denna Diamond-presentation levererad av Ankur Gupta på ITC.
Upptäck hur du förbättrar systemets observerbarhet i livet med hjälp av realtidsspänningstelemetri och funktionsövervakning.
En gemensam lösning som kombinerar fysisk on-die telemetri från Movellus Aeonic Insight™ Droop Detector med funktionella övervakningslösningar från Tessent Embedded Analytics. Genom att länka dessa instrument via korsutlösande hårdvara erbjuder systemet en enda, tidsjusterad bild av vad som hände och varför, direkt korrelerar specifika instruktionssekvenser eller bussaktivitet med fysiska PDN-händelser som orsakade dem.

Läs mer om effekterna av lång svansfördröjning och serverfelsökning. Förstå detaljerade programvarustrategier för att undvika latens och felsökning av prestanda.
