Utnyttja flera design-till-tillverkningsplattformar
Calibre Ddefect Management-lösningar utför mönstermatchningsbaserad defektgruppering och utnyttjar DRC/LVS för felplatsbaserade designattribut och analys av nettokritikalitet. Den sömlösa integrationen med designverktyg underlättar direkt koppling mellan fysisk design och defektinspektion.
Korssond till designanalys
Calibre Ddefect Management GUI integrerar olika Calibre-designanalysfunktioner och tillhandahåller olika felbaserade designguidade analysfunktioner så att användare enkelt kan identifiera och åtgärda grundorsaken till defekterna.

Nedval från BFI-inspektion till SEM-analys
Calibre Ddefect Management tillhandahåller applikationer för nedprovtagning genom att integrera med Calibre SONR-tekniker, en maskininlärningsbaserad ranknings- och förutsägelsemetod, för att förbättra träfffrekvensen för defekter och markera systematiska mönster med begränsad samplingsbudget för SEM-granskning.

SEM-bildbaserad defektanalys
Calibre Ddefect Management SEM-bildbearbetningskapacitet möjliggör exakt förankring mellan defektplatsen på masken/skivan och defektplatsen i layouten. Tekniker som SEM-till-layout-justering, konturextraktion och SEM-baserad automatisk defektklassificering används för att säkerställa korrekt defektanalys.

Är du redo att lära dig mer om Calibre?
Vi står redo att svara på dina frågor! Kom i kontakt med vårt team idag
Ring: 1-800-547-3000
Calibre konsulttjänster
Vi hjälper dig att anta, distribuera, anpassa och optimera dina komplexa designmiljöer. Direkt tillgång till teknik och produktutveckling gör att vi kan utnyttja djup domän- och ämnesexpertis.
Supportcenter
Siemens Support Center ger dig allt på en lättanvänd plats -
kunskapsbas, produktuppdateringar, dokumentation, supportärenden, licens/beställningsinformation med mera.
Kaliber IC Design & Tillverkning
Verktygssviten Calibre ger exakt, effektiv, omfattande IC-verifiering och optimering över alla processnoder och designstilar samtidigt som resursanvändning och bandutningsscheman minimeras.