Fleksibilni ulazi i izlazi
Nudi pet unapred definisanih standardnih varijanti sa 4 strujna transformatora, 4 naponska transformatora, 11 do 75 binarnih ulaza i 9 do 41 binarni izlaz.
SIPROTEC 6MD85 kontroler ležišta je modularni regulator ležišta za srednjonaponske i visokonaponske rasklopne uređaje sa integrisanim radom i opsežnim zaštitnim funkcijama.
Deo porodice SIPROTEC 5, podržava brojne zaštitne funkcije iz SIPROTEC biblioteke i omogućava IO integraciju specifične za aplikaciju. Standardne varijante uključuju instrumentne transformatore i podržava selektivnu zaštitu nadzemnih vodova i kablova sa jednokrakim i višestrukim hranilicama.
Šabloni aplikacija DIGSI 5 pružaju konfiguracije spremne za upotrebu za standardne aplikacije, blokiranje rasklopnih uređaja i proširenu kontrolu.
6MD85 pruža integrisanu kontrolu ležišta sa svestranim zaštitnim funkcijama, omogućavajući pouzdan rad i automatizaciju sistema srednjeg do ekstra visokog napona.
DIGSI 5 omogućava da se sve funkcije konfigurišu i kombinuju po potrebi, a modularni dizajn olakšava prilagođavanje iOS-a vašoj aplikaciji. Rad prilagođen korisniku i dizajn softvera pojednostavljuju puštanje u rad i svakodnevnu upotrebu.
6MD85 ispunjava standarde sajber bezbednosti sa kontrolom pristupa zasnovanom na ulogama, potpisanim firmverom, autentifikovanim mrežnim pristupom i sigurnim evidentiranjem događaja. Konformni premaz osigurava pouzdan rad čak i pod ekstremnim uslovima okoline.
Nudi pet unapred definisanih standardnih varijanti sa 4 strujna transformatora, 4 naponska transformatora, 11 do 75 binarnih ulaza i 9 do 41 binarni izlaz.
Podržava do 4 priključna komunikaciona modula za različite i redundantne protokole, uključujući IEC 61850-8-1 i IEC 61850-9-2 klijent. Omogućava sigurnu komunikaciju podataka sa serijskom zaštitom na velikim udaljenostima i fizičkim medijima.
Uključuje grafički logički uređivač za automatizaciju, integrisani Ethernet RJ45 za DIGSI 5 i IEC 61850, jedinicu za merenje fazora sa IEEE C37.118, snimanje grešaka, prebacivanje tačka-talas i pomoćne funkcije ispitivanja.