Tessent MemoryBIST pruža kompletno rešenje za brzo testiranje, dijagnozu, popravku, otklanjanje grešaka i karakterizaciju ugrađenih memorija. Koristeći fleksibilnu hijerarhijsku arhitekturu, ugrađeni samo-testiranje i samopopravljanje mogu se integrisati u pojedinačna jezgra, kao i na najvišem nivou.
Tessent MemoryBIST, vodeći u industriji ugrađeni samo-test memorije, uključuje jedinstveno sveobuhvatan tok automatizacije koji omogućava proveru pravila dizajna, planiranje testova, integraciju i verifikaciju sve na nivou RTL ili kapije.
Tessent MemoryBIST ECC poboljšava pouzdanost, poboljšava kvalitet ispitivanja i štiti od oštećenja starenja. Njegovi prilagodljivi kriterijumi za prolaz/neuspeh omogućavaju optimalnu kombinaciju redundancije memorije i koda za ispravljanje grešaka.
Tessent MemoryBIST NVM pruža fleksibilno testiranje i popravku, smanjuje troškove testiranja proizvodnje i povećava pouzdanost. Automatizovani algoritmi specifični za NVM omogućavaju specijalizovane načine pristupa i rad sa ECC opcijom.
Napredni BAP pruža podesivi interfejs za optimizaciju testiranja u sistemu. Takođe podržava protokol niske latencije za konfigurisanje memorijskog BIST kontrolera, izvršavanje Go/NoGo testova i praćenje statusa prolaze/kvara.
Algoritmi za testiranje memorije mogu se tvrdo kodirati u Tessent MemoryBIST kontroler, a zatim primeniti na svaku memoriju kroz kontrolu vremena rada. Ovo vam omogućava da odaberete kraće algoritme testiranja kako sazreva proizvodni proces.
Opcija popravke Tessent MemoryBIST eliminiše složenost i troškove povezane sa spoljnim tokovima popravki. Testira i trajno popravlja sve neispravne memorije u čipu koristeći praktično nikakve spoljne resurse.
Gledajte Etienne Racine, menadžer proizvoda Tessent, kako govori o tome kako Tessent MemoryBIST može pomoći da maksimizira kvalitet testa, minimizira vreme testiranja, poboljša prinos i popravi memorije svojom fleksibilnom arhitekturom.
Saznajte kako vam korišćenje Tessent softvera omogućava da se uskladite sa novim standardima i propisima, istovremeno nudeći kompletan skup rešenja od kraja do kraja za rešavanje zahteva današnjeg razvoja automobilskih IC.
Ovaj rad opisuje prednosti korišćenja zajedničke arhitekture sabirnice za testiranje i popravku memorija unutar iPS jezgara i predstavlja automatizaciju dostupnu u Tessent MemoryBIST.
Ova studija slučaja opisuje kako je ON Semiconductor koristio hijerarhijski protok Tessent MemoryBIST da smanji vreme umetanja memorijskog BIST-a za 6Ks.
