Zašto Tessent LogicBist?
Tessent LogicBist se efikasno integriše sa Tessent MissionMode i Tessent TestKompress kako bi stvorio kompletno rešenje za testiranje u sistemu i proizvodnji za uređaje kritične za bezbednost.
Poboljšava pokrivenost testa
Dizajnirana za hibridne TK/LBIST aplikacije, tehnologija testnih tačaka Tessent VersaPoint istovremeno poboljšava broj ATPG uzoraka i logičku BIST testiranje, poboljšavajući pokrivenost LBIST za 2% -4%.
Ispunjava vreme testiranja u sistemu
Posmatranjem podataka kola u svakom ciklusu smene, ne samo u snimanju, tehnologija skeniranja posmatranja (OST) značajno smanjuje broj obrazaca potrebnih za postizanje pokrivenosti ciljne logike BIST testa.
Povećava efikasnost testa
Tessent Hibrid TK/LBIST efikasno kombinuje logičku arhitekturu Tessent TestKompress i LogicBist kako bi poboljšao kvalitet testa uz izbegavanje bilo kakve kazne za područje, iskorištavajući prednosti i ATPG kompresije i logičkog BIST-a.
Infineon smanjuje vreme testiranja LBIST na funkcionalnu sigurnost
U ovoj prezentaciji, Daniel Tille iz Infineon-a pokazuje upotrebu LogicBist-a sa tehnologijom skeniranja opservacije, za koju je dokazano da drastično smanjuje vreme testiranja ugrađenog logičkog samo-testiranja (LBIST) za Infineon Automotive mikrokontrolere (MCU).
