Tessent YieldInsight
Tessent YieldInsight statistično analizira podatke o diagnozi, da bi identificiral in ločil sistematične omejevalnike donosa, preden se opravi kakršna koli analiza okvare. Tessent YieldInsight je specializiran za razumevanje in prepoznavanje izgube donosa iz podatkov testa skeniranja in omogoča izvajanje rezultatov diagnoze volumna.
Zakaj Tessent YieldInsight?
Z uporabo specializiranih tehnik rudarjenja podatkov in statistične analize Tessent YieldInsight odpravlja hrup iz diagnostičnih podatkov, da bi ugotovil osnovne vzroke, identificiral sistematične omejevalnike donosa in izbral najboljše naprave za analizo okvar.
Prepoznajte skrite omejevalnike donosa
Tessent YieldInsight identificira vzrok sistematične izgube donosa in zagotavlja smernice skozi postopek izbire matrice za analizo okvar.
Odstranite hrup iz rezultatov diagnoze
Tehnologija dekonvolucije korenskih vzrokov (RCD) odstrani hrup iz rezultatov diagnoze in določa osnovne vzroke. Izbere in filtrira populacije neuspešnih mrtvih in združuje matrice, ki iz podobnih razlogov propadejo.
Deluje z Tessent Diagnosis
Analizira rezultate diagnoze, ozaveščene s postavitvijo in celično ozaveščeno diagnozo iz Tessent Diagnosis, da bi identificirali in ločili sistematične omejevalnike donosa, preden se opravi kakršna koli analiza okvare, s čimer se odpravi potreba po dragi fizični lokalizaciji.
Nova tehnologija reverzibilne verige skeniranja
Ta skupni spletni seminar med Siemens EDA in Qualcomm reflektorji, ki ga gosti ASM International:
- Motivacija za uporabo verižne diagnostike v ploščadi donosa
- Pregled verižne diagnoze, reverzibilna veriga
- Tehnologija reverzibilne verige in diagnoza
- Izvajanje reverzibilnih verig
- Rezultati silicija iz testnega čipa
