Tessent Diagnosis
Z uporabo podatkov o napakah iz proizvodnega testa, vzorcev preskusov skeniranja in informacij o načrtu Tessent Diagnosis identificira lokacijo in razvrstitev napake, ki povzroča okvaro.
Zakaj Tessent Diagnosis?
Rešitev Tessent Diagnosis identificira vrsto in lokacijo napak ter vzpostavlja temelje za analizo donosa in okvar, ki jo temelji na diagnozi.
Natančno prepoznajte napake in časovne napake
Za določitev najverjetnejšega mehanizma okvare, logične lokacije in fizične lokacije napake uporabite tehnologijo, ki ozavešča postavitev in ozaveščanje celic.
Diagnoza, ki ozavešča celic
Izvedite diagnozo na ravni tranzistorja, da ugotovite napake znotraj standardnih celic. Ta zmogljivost uporablja isti model napak, ki ozavešča celico, ki se uporablja za ATPG, ki ozavešča celice, in deluje za katero koli vrsto vzorca.
Diagnoza verige z visoko ločljivostjo
Izboljšajte diagnozo za > 1,5-krat na naprednih procesnih vozliščih (5 nm in manj). Zagotavlja natančno izolacijo na ravni tranzistorja za okvare verige skeniranja. Zagotavlja natančno izoliranje napak globokih točk.
Korelirajte z analizo DFM
Rezultate diagnoze je mogoče povezati z rezultati analize DFM, da bi ugotovili kritične značilnosti oblikovanja. Tessent Diagnosis lahko bere zbirke podatkov o rezultatih (RDB) iz Calibre.
Zaupanja vredna tehnologija
Tessent Diagnosis je vodilni na trgu tehnologije diagnostike skeniranja z najvišjo stopnjo natančnosti. Več kot 80% poročil, ustvarjenih z uporabo Tessent Diagnosis, je bilo potrjenih s postopkom analize napak.
Izboljšave verižne diagnostike s tehnologijami Tessent
Jayant D'Souza, višji vodja izdelkov pri podjetju Tessent, govori o uporabi tehnologije verižne diagnostike visoke ločljivosti Tessent za izboljšanje donosa za doseganje časa za trženje z odkrivanjem bolj sistematičnih napak in izboljšanjem ločljivosti za do 80%.
