Tessent MemoryBist ponuja popolno rešitev za hitrostni test, diagnostiko, popravilo, odpravljanje napak in karakterizacijo vgrajenih spominov. Z uporabo prilagodljive hierarhične arhitekture je vgrajeno samotestiranje in samopopravljanje mogoče integrirati tako v posamezna jedra kot na najvišji ravni.
Tessent MemoryBist, vodilni vgrajen pomnilnik v panogi, vključuje edinstveno celovit tok avtomatizacije, ki omogoča preverjanje pravil oblikovanja, načrtovanje testov, integracijo in preverjanje na ravni RTL ali vrat.
Tessent MemoryBist ECC povečuje zanesljivost, izboljša kakovost testov in ščiti pred napakami pri staranju. Njegova prilagodljiva merila za prehodo/neuspeh omogočajo optimalno kombinacijo redundančnosti pomnilnika in kode za odpravljanje napak.
Tessent MemoryBist NVM zagotavlja prilagodljivo testiranje in popravilo, zmanjšuje stroške proizvodnih testov in povečuje zanesljivost. Avtomatizirani algoritmi, specifični za NVM, omogočajo specializirane načine dostopa in delujejo z možnostjo ECC. Na voljo. Zgodaj 26
Napredni BAP ponuja nastavljiv vmesnik za optimizacijo testiranja v sistemu. Podpira tudi protokol z nizko zakasnitvijo za konfiguriranje pomnilniškega krmilnika BIST, izvajanje testov Go/NoGo in spremljanje stanja potovanja/neuspeha.
Algoritme za testiranje pomnilnika je mogoče trdo kodirati v krmilnik Tessent MemoryBist in nato uporabiti za vsak pomnilnik s pomočjo nadzora časa izvajanja. To vam omogoča izbiro krajših testnih algoritmov, ko proizvodni proces dozori.
Možnost popravila Tessent MemoryBist odpravlja zapletenost in stroške, povezane z zunanjimi popravili. Preizkuša in trajno popravi vse okvarjene pomnilnike v čipu s praktično nobenimi zunanjimi viri.
Oglejte si Etienne Racine, vodja izdelkov Tessent, kako lahko Tessent MemoryBist pomaga povečati kakovost testiranja, zmanjšati čas testiranja, izboljšati donos in popraviti spomine s svojo prilagodljivo arhitekturo.
Naučite se, kako vam uporaba programske opreme Tessent omogoča usklajevanje z nastajajočimi standardi in predpisi, hkrati pa ponuja celoten nabor rešitev za reševanje zahtev današnjega razvoja avtomobilskih sistemov IC.
Ta članek opisuje prednosti uporabe skupne arhitekture vodila za testiranje in popravilo pomnilnikov znotraj iPS jeder in predstavlja avtomatizacijo, ki je na voljo v Tessent MemoryBist.
Ta študija primera opisuje, kako je ON Semiconductor uporabil hierarhični tok Tessent MemoryBist za zmanjšanje časa vstavljanja pomnilnika BIST za 6-krat.
