Tessent LogicBIST
Tessent LogicBist je vodilna vgrajena rešitev za samo-testiranje v industriji za testiranje digitalnih logičnih komponent integriranih vezij. Je idealna testna rešitev za varnostno kritične naprave, kot so IC, ki se uporabljajo v avtomobilskih in medicinskih aplikacijah.
Zakaj Tessent LogicBist?
Tessent LogicBist se učinkovito integrira s Tessent MissionMode in Tessent TestKompress, da ustvari popolno rešitev za testiranje v sistemu in proizvodnji za varnostno kritične naprave.
Izboljša pokritost testa
Tehnologija testnih točk Tessent VersaPoint, zasnovana za hibridne aplikacije TK/LBIST, hkrati izboljša število vzorcev ATPG in logično testiranje BIST ter izboljša pokritost LBIST za 2% -4%.
Izpolnjuje čas testiranja v sistemu
Z opazovanjem podatkov vezja pri vsakem izmenskem ciklu, ne samo pri zajemanju, tehnologija opazovalnega skeniranja (OST) bistveno zmanjša število vzorcev, potrebnih za doseganje ciljne logične pokritosti preskusov BIST.
Poveča učinkovitost testiranja
Tessent Hybrid TK/LBIST učinkovito združuje logično arhitekturo Tessent TestKompress in LogicBist za izboljšanje kakovosti testov, hkrati pa se izogiba kazni na območje ter izkorišča prednosti stiskanja ATPG in logičnega BIST.
Infineon skrajša čas testiranja LBIST na funkcionalno varnost
Daniel Tille iz podjetja Infineon v tej predstavitvi prikazuje uporabo LogicBist s tehnologijo Observation Scan, za katero je dokazano, da drastično zmanjša čas testiranja logičnega vgrajenega samotestiranja (LBIST) za mikrokrmilnike Infineon Automotive (MCU).
