Skip to main content
Ta stran je prikazana z avtomatskim prevajanjem. Namesto tega glej v angleščini?
Hodnik v podatkovnem centru, ki prikazuje podatkovne strežnike za steklenimi vrati.
Tessent Advanced DFT

Tessent In-System Test

Za zagotovitev optimalne učinkovitosti, zanesljivosti in varnosti med delovanjem je potrebno neprekinjeno testiranje in spremljanje naprav. Tessent In-System Test omogoča uporabo visokokakovostnih determinističnih testnih vzorcev za testiranje v sistemu/na terenu med življenjskim ciklom vašega čipa.

Zakaj uporabljati Tessent In-System Test?

Tessent In-System Test ponuja vgrajeno strojno opremo in potrebno programsko opremo, ki omogoča uporabo visokokakovostnih determinističnih testnih vzorcev, hkrati pa skrajša čas preizkusa v primerjavi s tradicionalno logiko BIST.

Omogoča prilagodljiv test

Sistemski deterministični test vam omogoča spreminjanje vzorcev testov, ko se pojavijo nove napake in modeli napak ali se spreminjajo potrebe po vsebini testa.

Deluje s Tessent SSN

Sistemski testni krmilnik pridobiva podatke iz vmesnikov vodila, notranje poganja omrežje vodila Streaming Scan Network, da uporabi podatkovne pakete za skeniranje na jedra za testiranje, skrajša čas preizkusa in izboljša profil moči med preskusom.

Ponovno uporablja testne vzorce

Ponovno uporablja obstoječo preskusno infrastrukturo na čipu za ciljanje latentnih, občasnih, naključnih ali starostnih napak med življenjsko dobo izdelka, tako da omogoča ponovno uporabo vzorcev, ki temeljijo na IJTAG in SSN, za uporabo v sistemu.

Odziva se na tihe napake v podatkih

Zagotavlja popolnoma avtomatizirane zmogljivosti strojne in programske opreme, potrebne za odziv na staranje in okoljske dejavnike, ki se kažejo kot napake tihih podatkov/korupcija. Vsebino testa se lahko spreminja z razvojem testnih zahtev.

Omogočanje visokokakovostnih determinističnih testnih vzorcev

Tessent In-System Test (IST), predstavljen na ITC 2024, dopolnjuje Tessent Streaming Scan Network (SSN) in izboljša njegovo sposobnost uporabe v sistemskem okolju na terenu ter tako razširja napredno tehnologijo, ki jo ponuja Tessent SSN. Oblikovalci lahko uporabijo vgrajene vzorce determinističnega testa (EDT), ustvarjene s programsko opremo Tessent SSN prek vodila SSN neposredno s sistemskim testnim krmilnikom.

Uporaba visokokakovostnih determinističnih testnih vzorcev

Tessent In-System Test integrira sistemski deterministični test (IS-EDT) z omrežjem Tessent Streaming Scan Network, da uporabnikom omogoči izvajanje determinističnih vzorcev v sistemu. Medtem ko je povpraševanje po vzorcih IS-EDT ključnega pomena v avtomobilski industriji, ta tehnologija koristi tudi podatkovnim centrom in oblikovanjem mrež. Ta članek opisuje, kako Tessent In-System Test izpolnjuje potrebe po testiranju v sistemu in na terenu.

žareči mikročip
podatkovni center

Oglejte si spletni seminar IST

Oglejte si spletni seminar na zahtevo Izboljšanje kakovosti Test v sistemu z determinističnim Test.

Izvedite več