Skip to main content
Ta stran je prikazana z avtomatskim prevajanjem. Namesto tega glej v angleščini?
Oseba v črni srajci, ki stoji ob beli steni in drži temen predmet z zamegljenim ozadjem.
Tessent Advanced DFT

Tessent DefectSim

Tessent DefectSim je simulator napak na ravni tranzistorja za analogna, mešanega signala (AMS) in digitalna vezja brez skeniranja. Meri pokritost napak in toleranco napak ter je kot nalašč tako za visoko prostornino kot za visoko zanesljive IC.

Zakaj Tessent DefectSim?

Izboljšajte varnost, kakovost testiranja in čas AMS. Tessent DefectSim nadomešča ročno oceno pokritosti preskusov v vezjih AMS in ustvarja objektivne podatke za usmerjanje izboljšav, potrebnih za izpolnjevanje standardov kakovosti in funkcionalne varnosti ter ciljev pokritosti testov.

Analogna simulacija napak

Z@@

grajen na tehnikah vbrizgavanja napak na ravni tranzistorja, ki se uporabljajo v TestKompress Cell-Aware ATPG za skenirana digitalna vezja, je primeren za bloke industrijskih vezij, ki vsebujejo na stotine ali tisoče tranzistorjev.

Učinkovita analiza izhoda

Ustvarite povzetek, ki navaja pokritost napak, prilagojenih z verjetnostjo, interval zaupanja in matriko, v kateri je navedena vsaka napaka in ali je bila odkrita z neuspešno preskusno mejo ali digitalnim izhodom.

Učinkovita simulacija

Dramatično skrajšajte skupni čas simulacije v primerjavi s simulacijo proizvodnih testov in plosko izvlečenih mrežnih seznamov postavitev v klasičnih SPICE na vzporednih procesorjih.

Vprašajte strokovnjaka - moškega in žensko, ki se posvetujeta v pisarni.

Ste pripravljeni izvedeti več o Tessentu?

Smo pripravljeni odgovoriti na vaša vprašanja.

Ocenili smo Tessent DefectSim na več avtomobilskih sistemih in ugotovili, da gre za visoko avtomatizirano in prilagodljivo rešitev, ki usmerja izboljšave v preskusnih tehnikah in tehnik načrtovanja za testiranje ter nam omogoča merljivo izboljšanje pokritosti napak analognih testov.
Wim Dvoposteljna, Direktor testiranja in proizvodnega inženiringa, ON polprevodnik

Izvedite več