Skip to main content
Ta stran je prikazana z avtomatskim prevajanjem. Namesto tega glej v angleščini?
Oseba stoji pred velikim zaslonom, ki prikazuje barvito abstraktno obliko.
Tessent Advanced DFT

Tessent BoundaryScan

Tessent BoundaryScan je popolna rešitev za avtomatizirano ustvarjanje in integracijo testne infrastrukture na čipu, skeniranja meja in preskusnih dostopnih vrat.

Zakaj Tessent BoundaryScan?

Logika Tessent BoundaryScan je dostopna skozi celotno življenjsko dobo IC, vključno s proizvodnim preskusom na vseh ravneh paketa, odpravljanjem napak s silicijem in preverjanjem sistema za odkrivanje napak pred odpremo, zmanjšanjem stroškov podpore na terenu in povečanjem zadovoljstva strank.

Popolno skeniranje meja in integracija krmilnika TAP

Samodejno ustvari in integrira RTL kodo za krmilnik TAP in celice za skeniranje meja v načrtovano RTL. Ustvari skripte za logično sintezo, simulacijske testne mize in testne vzorce za proizvodni test.

Podpira več formatov

Tessent Boundary scan podpira celice za skeniranje meja po meri IEEE 1149.1 in brezkontaktni I/O test ter ima možnost za podporo za pregledovanje meja 1149.6.

Interoperabilnost IEEE 1687 IJTAG

Samodejno poveže omrežja in instrumente IJTAG z novo vstavljenim krmilnikom TAP in ustvari nastale datoteke jezika za povezljivost instrumenta. I/O testi so ustvarjeni v obliki jezika postopkovnega opisa (PDL).

Vprašajte strokovnjaka - moškega in žensko, ki se posvetujeta v pisarni.

Ste pripravljeni izvedeti več o Tessentu?

Smo pripravljeni odgovoriti na vaša vprašanja.

Izvedite več