Izdelki Tessent

Tessent AnalogTest zmanjšuje razvoj in preverjanje analognih testnih vzorcev od inženirskih mesecev do inženirskih ur. To je najučinkovitejši način za povečanje pokritosti napak ob hkratnem zmanjšanju stroškov testa.

Tessent In-System Test ponuja vgrajeno strojno opremo in potrebno programsko opremo, ki omogoča uporabo visokokakovostnih determinističnih testnih vzorcev, hkrati pa skrajša čas preizkusa v primerjavi s tradicionalno logiko BIST.

Zagotovite najkakovostnejši deterministični preskus skeniranja z najnižjimi stroški proizvodnega testa z uporabo patentirane stiskanja na čipu, da zmanjšate količino testnih podatkov in skrajšate čas preizkusa.

Avtomatizirajte ustvarjanje in vstavljanje strojne opreme, skladne z IEEE 1838, ter določite arhitekturo testnega dostopa IEEE za 3D zložena integrirana vezja.

Zmanjšajte čas razvoja DFT in stroške proizvodnega testa z ločenjem zahtev DFT na ravni jedra in čipa z omrežjem Tessent Streaming Scan Network (SSN).

Omogočite celovito avtomatizacijo in integracijo testiranja, popravila, odpravljanja napak in karakterizacije vgrajenih pomnilnikov s programom Tessent MemoryBist.

Omogočite skladnost z ISO 26262 z idealno logično vgrajeno rešitvijo za samotestiranje za varnostno kritične naprave, kot so IC-ji, ki se uporabljajo v avtomobilskih in medicinskih aplikacijah.

Združite avtomatizacijo in IP na čipu, da omogočite testiranje in diagnostiko IC na kateri koli točki med funkcionalnim delovanjem vozila — temeljna zahteva standarda ISO 26262.

Zmanjšajte napore pri izvajanju DFT z optimalno avtomatizacijo toka Tessent Platform za hierarhični DFT.

Izboljšajte stopnje stiskanja testov do 4-krat, omogočite hierarhični DFT, logično pripravljenost BIST in vstavljanje skeniranja s Tessent ScanPro.

Poenostavite široko paleto kritičnih nalog DFT s to novo programsko opremo, razvito za oblikovalske ekipe IC.

Poenostavite postopek ustvarjanja kompaktnih testnih kompletov z visoko pokritostjo. Zaradi sposobnosti Tessent FastScan, da se uporablja za večino vseh vrst oblikovanja, je najbolj vsestranska rešitev ATPG, ki je na voljo.

Zagotovite avtomatizacijo in integracijo za preizkusne in instrumentacijske IP, skladne z IEEE 1687 IJTAG, iz različnih virov v zasnovo IC.

Avtomatizirajte dodajanje standardne podpore za skeniranje meja IEEE 1149.1 na IC katere koli velikosti ali kompleksnosti, s čimer zmanjšate razvojne napore in izboljšate čas za vstop na trg.

Simulirajte napake na ravni tranzistorja za analogna, mešanega signala in digitalna vezja brez skeniranja ter avtomatizirate oceno pokritosti, da boste lažje izpolnili standarde kakovosti, kot je ISO 26262.

Tessent IJTAG Pro drastično zmanjša stroške testiranja s pospeševanjem nalaganje/razkladanja vzorcev IJTAG, kar je ključnega pomena za čiplete, zasnove 2,5/3DIC in se uporablja za druge testne aplikacije prek Tessent SSN. Izboljša IJTAG.

Za natančno razvrstitev in prepoznavanje lokacije napak, ki povzročajo okvare med proizvodnimi preskusi, uporabite tehnologije diagnostike, ki so ozaveščene s postavitvijo in celično ozaveščenimi tehnologijami.

Pospešite izvajanje testov, odpravljanje napak in karakterizacijo silicija naprav, ki vsebujejo testne strukture Tessent ATPG, EDT, BIST in/ali IJTAG v avtomatiziranem interaktivnem okolju.

Odstranite hrup iz podatkov o diagnozi, da ugotovite osnovne vzroke, določite sistematične omejevalnike donosa in izberete najboljše naprave za analizo okvar.

Rešitev RISC-V za odpravljanje napak in sledenje od konca do konca, sestavljena iz vgrajenega IP in programske opreme, zasnovane za zagotavljanje celovitih in učinkovitih zmogljivosti za odpravljanje napak in sledenje.

Celovita funkcionalna rešitev za spremljanje prepoznavnosti kompleksnega vedenja SoC, ki vključuje nastavljive IP-je, C++/Python API-je in orodje za ustvarjanje podsistemov, ki lahko pospeši odpravljanje napak, preverjanje in optimizacijo zapletenih SoC-jev

Dovolite aplikacijsko programsko opremo, ki deluje na SoC, za učinkovito spremljanje delovanja. Omogočite zaporedno izboljševanje in optimizacijo izdelkov na podlagi podatkov, zbranih pri uporabi v resničnem življenju — ne samo v laboratoriju.

Zagotovite najvišjo kakovost preskusov izdelave z rešitvami Tessent. Povečajte število odkritih fizičnih napak v rešitvi za preskus brez napak.

Zmanjšajte tveganje in izpolnite zahtevane varnostne standarde s celovitimi rešitvami za testiranje in razvrščanje napak v sistemu, s čimer zagotovite, da je vaš izdelek v celoti skladen z varnostno kritičnimi aplikacijami, za katere je zasnovan.

Uvedite celovito varnostno rešitev za vaš izdelek IC, ki obravnava preverjanje pristnosti, komunikacijo, zaščito in upravljanje življenjskega cikla naprave v okviru testiranja, funkcionalnega delovanja in varnosti na ravni sistema.

Diagnosticirajte in analizirajte podatke o napakah in donosu posameznih donosov strank ali podatkov o obsegu proizvodnje. Pridobite dragocene povratne informacije o oblikovanju in procesih, da izboljšate zanesljivost prihodnjih procesov in modelov.