Skip to main content
Ta stran je prikazana z avtomatskim prevajanjem. Namesto tega glej v angleščini?

Izvajajte neprekinjeno spremljanje in optimizacijo

Rešitev Tessent Embedded Analytics se lahko uporablja za izdelavo meritev zdravja in delovanja skozi celoten življenjski cikel SoC. Vgrajena programska oprema, ki temelji na Tessent Embedded SDK, lahko poganja pametne monitorje Tessent Embedded Analytics in ustvari samostojen sistem za spremljanje na čipu.

Elektronski čip

Povečajte napake/optimizacijo SoC z vgrajeno programsko opremo

Odkrijte, kako lahko vgrajena programska oprema nudi vrhunsko alternativo za pridobivanje vpogledov iz monitorjev na čipu

Video

DFT za spremljanje elektronskih sistemov v življenju

Odkrijte Tessent Silicon Lifecycle Solutions od oblikovanja za testiranje (DFT) do spremljanja zanesljivih elektronskih sistemov v tej predstavitvi Diamond, ki jo je pripravil Ankur Gupta na ITC.

Video

Zaznavanje, diagnosticiranje in odpravljanje napak sistemov v življenju

Odkrijte, kako izboljšati opaznost sistema v življenju z uporabo napetostne telemetrije v realnem času in funkcionalnega spremljanja.

Bela knjiga

Izboljšanje opazovanja sistema

Skupna rešitev, ki združuje fizično telemetrijo pri uporabi detektorja droop Movellus Aeonic Insight™ s funkcionalnimi rešitvami za spremljanje podjetja Tessent Embedded Analytics. S povezovanjem teh instrumentov prek navzkrižnega sproževanja strojne opreme sistem ponuja en sam, časovno usklajen pogled na to, kaj se je zgodilo in zakaj, pri čemer neposredno povezuje specifična zaporedja navodil ali aktivnost vodila s fizičnimi dogodki PDN, ki so jih povzročili.

3D IC modra
Bela knjiga

Dolga zakasnitev in odpravljanje napak v strežniku

Preberite več o vplivu dolge zakasnitve in odpravljanju napak v strežniku. Razumejte podrobne strategije programske opreme za izogibanje zakasnitvi in odpravljanje napak pri zmogljivosti.

Skupina ljudi stoji pred velikim zaslonom, ki prikazuje graf in besedilo o trendovskih tehnologijah.