Skip to main content
Táto stránka sa zobrazuje použitím automatického prekladu. Zobraziť namiesto toho v Angličtine?

Prečo Tessent YieldInsight?

Pomocou špecializovaných techník získavania údajov a štatistickej analýzy eliminuje Tessent YieldInsight hluk z diagnostických údajov, aby určil základné príčiny, identifikoval systematické obmedzovače výnosov a vybral najlepšie zariadenia na analýzu porúch.

Identifikujte skryté obmedzovače výnosov

Tessent YieldInsight identifikuje príčinu systematickej straty výnosu a poskytuje usmernenie procesom výberu matrice na analýzu porúch.

Odstráňte hluk z výsledkov diagnostiky

Technológia dekonvolúcie základných príčin (RCD) odstraňuje hluk z výsledkov diagnostiky a určuje základné príčiny. Vyberá a filtruje populácie zlyhávajúcich mŕt a zoskupuje matrice, ktoré zlyhávajú z podobných dôvodov.

Pracuje s Tessent Diagnosis

Analyzuje výsledky diagnostiky zameranej na usporiadanie a bunkové analýzy z Tessent Diagnosis Diagnostics s cieľom identifikovať a oddeliť systematické obmedzovače výnosu pred vykonaním akejkoľvek analýzy porúch, čím sa eliminuje potreba nákladnej fyzickej lokalizácie.

Webinár

Nová technológia reverzibilného skenovacieho reťazca

Tento spoločný webinár medzi reflektormi Siemens EDA a Qualcomm, ktorý organizuje ASM International:

  • Motivácia pre použitie reťazovej diagnostiky pri výnosovej rampe
  • Prehľad reťazovej diagnostiky, reverzibilný reťazec
  • Technológia a diagnostika reverzibilného reťazca
  • Implementácia reverzibilných reťazcov
  • Výsledky kremíka z testovacieho čipu
 Detailný záber procesorového čipu na doske plošných spojov s modrým pozadím.

Prečítajte si viac