Tessent MemoryBist poskytuje kompletné riešenie pre rýchlostné testovanie, diagnostiku, opravu, ladenie a charakterizáciu vložených pamätí. Vďaka flexibilnej hierarchickej architektúre je možné integrovať vstavaný autotest a samoopravu tak do jednotlivých jadier, ako aj na najvyššej úrovni.
Tessent MemoryBist, špičkový vstavaný vlastný test pamäte, obsahuje jedinečne komplexný tok automatizácie, ktorý poskytuje kontrolu pravidiel návrhu, plánovanie testov, integráciu a overovanie na úrovni RTL alebo brány.
Tessent MemoryBist ECC zvyšuje spoľahlivosť, zlepšuje kvalitu testu a chráni pred poruchami starnutia. Jeho prispôsobiteľné kritériá prihlasovania/zlyhania umožňujú optimálnu kombináciu redundancie pamäte a kódu na opravu chýb.
Tessent MemoryBist NVM poskytuje flexibilné skúšky a opravy, znižuje náklady na výrobné skúšky a zvyšuje spoľahlivosť. Automatizované algoritmy špecifické pre NVM umožňujú špecializované režimy prístupu a pracujú s možnosťou ECC. Dostupné. začiatkom 26
Pokročilý BAP poskytuje konfigurovateľné rozhranie na optimalizáciu testovania v systéme. Podporuje tiež protokol s nízkou latenciou na konfiguráciu pamäťového radiča BIST, vykonávanie testov Go/NoGo a monitorovanie stavu prihlásení/zlyhania.
Algoritmy testovania pamäte môžu byť pevne kódované do ovládača Tessent MemoryBist a potom aplikované na každú pamäť pomocou riadenia času spustenia. To vám umožní vybrať kratšie testovacie algoritmy, keď výrobný proces dozrieva.
Možnosť opravy Tessent MemoryBist eliminuje zložitosť a náklady spojené s externými opravami. Testuje a trvalo opravuje všetky chybné pamäte v čipe s prakticky žiadnymi externými zdrojmi.
Sledujte Etienne Racine, produktový manažér spoločnosti Tessent, hovoriť o tom, ako môže Tessent MemoryBist pomôcť maximalizovať kvalitu testu, minimalizovať čas testu, zlepšiť výnos a opraviť pamäte pomocou svojej flexibilnej architektúry.
Zistite, ako vám používanie softvéru Tessent umožňuje zosúladiť sa s novými normami a predpismi a zároveň ponúknuť kompletný súbor riešení na riešenie požiadaviek dnešného vývoja automobilových systémov.
Tento článok popisuje výhody použitia architektúry zdieľanej zbernice na testovanie a opravu pamätí v jadrách iPS a predstavuje automatizáciu dostupnú v Tessent MemoryBist.
Táto prípadová štúdia popisuje, ako ON Semiconductor použil hierarchický tok Tessent MemoryBist na skrátenie času vloženia pamäte BIST o 6x.
