Prečo práve Tessent LogicBist?
Tessent LogicBist sa efektívne integruje s Tessent MissionMode a Tessent TestKompress a vytvára kompletné riešenie testov v systéme a výrobe pre zariadenia kritické pre bezpečnosť.
Zlepšuje pokrytie testov
Technológia testovacích bodov Tessent VersaPoint, navrhnutá pre hybridné aplikácie TK/LBIST, zlepšuje počet vzorov ATPG a logickú testovateľnosť BIST súčasne, čím zlepšuje pokrytie LBIST o 2% až 4%.
Spĺňa testovací čas v systéme
Pozorovaním údajov obvodu v každom cykle zmeny, nielen pri snímaní, technológia Observation Scan Technology (OST) výrazne znižuje počet vzorov potrebných na dosiahnutie pokrytia testu BIST cieľovej logiky.
Zvyšuje účinnosť testu
Tessent Hybrid TK/LBIST efektívne kombinuje logickú architektúru Tessent TestKompress a LogicBist, aby zlepšila kvalitu testu a zároveň sa vyhne akejkoľvek oblasti trestu a využíva výhody kompresie ATPG a logického BIST.
Infineon skracuje čas skúšky LBIST na funkčnú bezpečnosť
V tejto prezentácii Daniel Tille z spoločnosti Infineon ukazuje použitie LogicBist s technológiou Observation Scan, ktorá je dokázané, že drasticky znižuje čas testovania logického vstavaného autotestu (LBIST) pre mikrokontroléry Infineon Automotive (MCU).
