Tessent DefectSim je simulátor defektov na úrovni tranzistora pre analógové, zmiešané signálne (AMS) a neskenované digitálne obvody. Meria pokrytie chýb a toleranciu porúch a je ideálny pre vysokoobjemové aj vysoko spoľahlivé integrované obvody.
Zlepšite bezpečnosť AMS, kvalitu testu a čas. Tessent DefectSim nahrádza manuálne hodnotenie pokrytia testov v obvodoch AMS a generuje objektívne údaje na usmernenie zlepšení potrebných na splnenie noriem kvality a funkčnej bezpečnosti a cieľov pokrytia testov.
Postavený na technikách vstrekovania defektov na úrovni tranzistora používaných v TestKompress Cell-Aware ATPG pre skenovateľné digitálne obvody, je vhodný pre bloky priemyselných obvodov obsahujúcich stovky alebo tisíce tranzistorov.
Vytvorte súhrn so zoznamom pokrytia defektov vážených pravdepodobnosťou, interval spoľahlivosti a maticu s uvedením každej chyby a toho, či bola zistená neúspešným testovacím limitom alebo digitálnym výstupom.
Dramaticky skracujte celkový čas simulácie v porovnaní so simuláciou výrobných testov a plochým extrahovaním rozložených sietí v klasickom SPICE na paralelných procesoroch.
Vyhodnotili sme Tessent DefectSim na viacerých integrovaných obvodoch automobilov a dospel k záveru, že ide o vysoko automatizované a flexibilné riešenie, ktoré riadi zlepšenia v testovacích technikách a technikách návrhu na testovanie a umožňuje merateľne zlepšiť pokrytie chýb analógových testov.
Ponorte sa do úlohy analógovej simulácie porúch funkčnej bezpečnosti automobilov a preskúmajte výzvy, aplikácie, výhody a vplyv analógovej simulácie porúch na dizajn čipov a dodržiavanie bezpečnostných noriem.
