Zabezpečte kvalitu

Získajte najkvalitnejší test deterministického skenovania s najnižšími výrobnými testovacími nákladmi pomocou patentovanej kompresie na čipe na zníženie objemu testovacích údajov a skrátenie času testu.

Znížte čas vývoja dizajnu pre testovateľnosť (DFT) a náklady na výrobné skúšky oddelením požiadaviek na DFT na úrovni jadra a úrovne čipu.

Prekonajte obmedzenia kvality tradičných metodík DFT. Zamerajte sa na chyby integrovaných obvodov na úrovni tranzistora a prepojenia pomocou našej automatickej generácie testovacích vzorov automobilovej triedy (ATPG).

Dosiahnite komplexnú automatizáciu a integráciu testovania, opravy, ladenia a charakterizácie vložených pamätí.

Spĺňať požiadavky integrovaných obvodov pre rýchlo rastúci trh automobilovej elektroniky a splniť požiadavky nových trhov a technológií.

Simulujte chyby na úrovni tranzistora pre analógové, zmiešané signály a neskenované digitálne obvody. Spĺňajte štandardy kvality, ako je ISO26262 s automatizovaným hodnotením pokrytia.

Lee Harrison, riaditeľ produktového marketingu spoločnosti Tessent, hovorí o autobusoch Streaming Scan Network (SSN) a novej generácii technológie dizajnu na testovanie v tomto rozhovore pre Electronics Weekly.

Získajte informácie o kybernetickej bezpečnosti a trendoch v oblasti bezpečnosti automobilov a budúcnosti bezpečnosti technológií mobility. Zistite, ako Siemens EDA predstavuje inteligentnú voľbu pre automobilové spoločnosti v rámci ecosystem.

Zabezpečte kvalitu, zvýšte bezpečnosť, optimalizujte výkon a zvyšujte spoľahlivosť vložením malých modulov priamo do vášho systému na čipe (SoC), čo umožňuje nerušivé pozorovanie toho, čo sa deje vo vašom dizajne.

Prečítajte si, ako rastúci počet noriem a predpisov v rámci automobilového ekosystému sľubuje ušetriť náklady na vývoj tým, že bráni kybernetickým útokom.