Skip to main content
Táto stránka sa zobrazuje použitím automatického prekladu. Zobraziť namiesto toho v Angličtine?

Realizujte nepretržité monitorovanie a optimalizáciu

Riešenie Tessent Embedded Analytics možno použiť na vytváranie metrík zdravotného a prevádzkového stavu počas celého životného cyklu SoC. Vstavaný softvér založený na Tessent Embedded SDK dokáže riadiť inteligentné monitory Tessent Embedded Analytics a vytvoriť samostatný monitorovací systém na čipe.

Elektronický čip

Zvýšte ladenie/optimalizáciu SoC pomocou vstavaného softvéru

Zistite, ako môže vstavaný softvér poskytnúť vynikajúcu alternatívu k získavaniu poznatkov z čipových monitorov

Video

DFT do životného monitorovania elektronických systémov

Objavte Tessent Silicon Lifecycle Solutions od dizajnu pre testovateľnosť (DFT) až po monitorovanie spoľahlivých elektronických systémov počas života v tejto prezentácii Diamond, ktorú poskytol Ankur Gupta v ITC.

Video

Detekcia, diagnostikovanie a ladenie systémov v priebehu života

Objavte, ako zvýšiť pozorovateľnosť systému v živote pomocou telemetrie napätia v reálnom čase a funkčného monitorovania.

Odborný dokument

Zlepšenie pozorovateľnosti systému

Spoločné riešenie, ktoré spája fyzickú telemetriu na matrice z detektora droop Movellus Aeonic Insight™ s funkčnými monitorovacími riešeniami od spoločnosti Tessent Embedded Analytics. Spojením týchto nástrojov prostredníctvom krížového spúšťania hardvéru ponúka systém jediný časovo zosúladený pohľad na to, čo sa stalo a prečo, priamo korelujúci konkrétne sekvencie inštrukcií alebo aktivitu zbernice s fyzickými udalosťami PDN, ktoré ich spôsobili.

3D IC modrá
Odborný dokument

Dlhá latencia a ladenie servera

Prečítajte si viac o vplyve dlhej latencie a ladenia servera. Pochopte podrobné softvérové stratégie na vyhýbanie sa latencii a ladenie výkonu.

Skupina ľudí stojí pred veľkou obrazovkou zobrazujúcou graf a text o trendových technológiách.