Simcenter Micred Power Tester сочетает в себе активное циклирование питания с определением температурных характеристик переходных процессов и исследованием тепловой структуры. Выполните неразрушающую оценку функций конструкции во время монтажа устройства, обеспечив полную электрическую и структурную оценку устройства.

Доверьтесь надежному инструменту
Simcenter Micred Power Tester поддерживает автоматическое тестирование и диагностику возможных причин неисправностей силовых компонентов в производственном цеху. Потребности в энергии как потребительских, так и промышленных электронных систем растут, и поставщики компонентов силовой электроники, а также производители оригинального оборудования сталкиваются с проблемой предоставления высоконадежных систем, необходимых для авиации, электромобилей, поездов, производства электроэнергии и многоразового использования энергии. Simcenter Micred Power Tester может обеспечивать питание модулей десятками тысяч, а возможно, и миллионами циклов, одновременно обеспечивая диагностику незавершенных сбоев в реальном времени.

Получайте диагностику неисправностей в реальном времени
Simcenter Micred Power Tester — это единственная машина, предназначенная для использования в производственных и лабораторных условиях, которая обеспечивает автоматическое переключение питания и получение аналитических данных для диагностики незавершенных сбоев в реальном времени. Он предназначен для тестирования на срок службы с целью проверки надежности приложений, в которых используются силовые электронные модули.

Ускорьте процесс
Simcenter Micred Power Tester уникален тем, что он обеспечивает полностью автоматическое тестирование питания и одновременное циклирование на одной машине без необходимости извлечения тестируемого устройства во время процесса. Простой интерфейс с сенсорным экраном позволяет техническому специалисту использовать его в производственном цеху и/или инженеру по анализу отказов использовать его в лаборатории.

Термическое испытание

Семейство аппаратных решений для определения тепловых характеристик предоставляет поставщикам компонентов и систем возможность точно и эффективно тестировать, измерять и определять термические характеристики полупроводниковых интегральных микросхем, светодиодов с одной матрицей и матрицей, многослойных корпусов и корпусов с несколькими кристаллами, модулей силовой электроники, свойств термоинтерфейсного материала (TIM) и целых электронных систем.

Наши аппаратные решения напрямую измеряют фактические кривые нагрева или охлаждения упакованных полупроводниковых устройств непрерывно и в режиме реального времени, а не искусственно составляют их на основе результатов нескольких отдельных тестов. Измерение истинной тепловой переходной характеристики таким образом намного эффективнее и точнее, что позволяет получать более точные тепловые показатели по сравнению с стационарными методами. Измерения необходимо проводить только один раз на образец, а не повторять их и получать среднее значение, как при использовании стационарных методов.

Подробнее о термических испытаниях

Смотрите вебинары