Электронный компонент или корпус микросхем состоит из различных элементов: от микросхемы до разъема, основания, TIM, холодной пластины и окружающей среды. В каждом из них могут быть дефекты производства или деградация и повреждение электроники в течение срока службы электроники. Затем дефекты приводят к выходу устройства из строя, что приводит к гарантийным расходам и потере репутации клиентов.

Использование Simcenter Micred T3STER помогает исследовать эти дефекты, места повреждений и слабые места. Кроме того, с помощью Simcenter Micred T3STER можно идентифицировать и визуализировать ступени теплового сопротивления и емкости, соответствующие каждому из элементов на пути теплового потока от соединения до окружающей среды. Это поможет вам найти слабые места, в которых можно улучшить конструкцию, например, изменив материал или толщину штамповки. Это также может помочь вам определить потенциальные тепловые проблемы, такие как ухудшение теплового тракта или изменения в
термическое сопротивление конкретных компонентов. Использование Simcenter Micred T3STER позволяет точно определить внутреннюю структуру и температурные характеристики, что особенно важно при использовании новых конструкций или материалов.

Получение точных значений температуры перехода и RthJC, RthJp или RthJA затруднено только на основе тепловых имитационных моделей. В Simcenter Micred T3STER используется метод электрических испытаний, соответствующий стандарту JEDEC 51. Хотя методы инфракрасного излучения или термопар могут быть неточными или сложными в установке и измеряют только температуру поверхности, использование Simcenter Micred T3STER обеспечивает высокую точность с точностью до 1/100 градуса и при этом дает полное представление о внутренней структуре и пути теплового потока от стыка к окружающей среде. Помимо точности, Simcenter Micred T3STER требует только одного теста. С помощью быстрого, простого и воспроизводимого метода настройки вы можете ускорить процессы тестирования электроники.

Чтобы экспериментально проверить прогнозируемый срок службы электроники, производители проводят испытания на циклическое переключение активной мощности. Силовая электроника, испытывающая частые переключения и температурные переходы за короткий промежуток времени, более подвержена сбоям и проблемам с надежностью.

Традиционно компоненты тестируются до выхода из строя, а затем доставляются в лабораторию для выяснения причины и места неисправности, например, с помощью визуальных или рентгеновских методов. Однако эти методы либо разрушительны, либо дают неточные и трудно интерпретируемые изображения. Кроме того, вы не всегда можете разделить причины и следствия механизмов сбоя и понять, как они взаимодействуют друг с другом.

Аппаратное и программное обеспечение Simcenter Micred Power Tester сочетает активное циклирование питания с мониторингом температурного и электрического деградации. Этот процесс полностью автоматизирован, что избавляет от необходимости возвращаться в лабораторию. Он четко разделяет механизмы повреждения (расслоение, отрыв и т. д.) и определяет, какие интерфейсы (штамповка, паяные соединения и т. д.) являются слабыми местами, которые необходимо перепроектировать. Это также позволяет проектировать более тонко и экономить материальные затраты в определенных областях, гарантируя при этом ожидаемый срок службы конструкции.

Как только электроника поступит в серийное производство, вам необходимо убедиться, что то, что выходит с вашей производственной линии, соответствует требованиям. Высокопроизводительное автоматическое термическое тестирование или тестирование в конце производственного цикла (EoL) помогут вам обнаружить производственные дефекты раньше, чем это сделают ваши клиенты, и гарантировать качество продукции почти до нуля.

Simcenter Micred Quality Tester предлагает высокую гибкость и возможности настройки в соответствии с вашими потребностями, будь то кнопочный тестер, управляемый персоналом, тестирование исправлений, автоматизированное роботизированным обработчиком, или даже тестирование EoL, полностью автоматизированное и интегрированное в производственную линию. Тестирование EoL поможет выявить ошибки сборки и предупредить вас об изменении производственных параметров или материалов, чтобы ваша команда могла принимать решения «против» или «нет» или сортировать изготовленные образцы по диапазонам качества или бункерам. Учитывая высокие темпы производства, тестирование EoL должно быть быстрым, полностью автоматизированным и интегрированным с производственной линией.

Аппаратное и программное обеспечение Simcenter Micred Quality Tester Micred Quality Tester выбирает и помещает все произведенное изделие с производственной линии, подает короткий импульс питания для проверки теплового сопротивления соединения с корпусом и помещает каждый образец в заранее определенный набор качественных бункеров. Вы можете интегрировать Simcenter Micred Quality Tester в существующую производственную линию или использовать его для NPI при определении и оптимизации производственных параметров между
этап прототипа и серийного производства.

Использование Simcenter Micred Quality Tester позволяет производителям упакованных силовых полупроводников улучшить свои методы обеспечения качества, перейдя от базового качества к стабильному качеству. Программное обеспечение Simcenter Micred Quality Tester настраивается для поддержки различных протоколов связи, включая SECS/GEM, OPC UA и Modbus.

Тепловые имитационные модели позволяют быстро оценить множество вариантов проектирования без необходимости создания прототипов, но они полезны только в том случае, если результаты точно предсказывают происходящее в реальном мире. Повышение точности тепловых моделей на основе данных тепловых измерений повышает точность результатов теплового моделирования.

Simcenter включает в себя инструменты термического тестирования и моделирования, которые упрощают сопоставление тепловых моделей электронных устройств. Использование таких инструментов, как Программное обеспечение Simcenter FLOEFD™ а также Программное обеспечение Simcenter Flotherm™ обеспечивает автоматические процедуры калибровки на основе данных, измеренных с помощью Simcenter Micred. Уникальная комбинация инструментов Simcenter позволяет точно и эффективно находить наилучший дизайн электронных компонентов и корпусов.