Tessent MemoryBist предоставляет комплексное решение для быстрого тестирования, диагностики, ремонта, отладки и определения характеристик встроенной памяти. Благодаря гибкой иерархической архитектуре встроенные средства самотестирования и самовосстановления могут быть интегрированы как в отдельные ядра, так и на верхнем уровне.
Tessent MemoryBist, ведущая в отрасли встроенная система самотестирования памяти, включает уникальный комплексный процесс автоматизации, который обеспечивает проверку правил проектирования, планирование тестирования, интеграцию и проверку на уровне RTL или шлюза.
Tessent MemoryBist ECC повышает надежность, улучшает качество тестирования и защищает от дефектов старения. Настраиваемые критерии «пройден/пройден» позволяют оптимально сочетать избыточность памяти и код, исправляющий ошибки.
Tessent MemoryBist NVM обеспечивает гибкое тестирование и ремонт, снижает затраты на производственные испытания и повышает надежность. Автоматические алгоритмы, специфичные для NVM, обеспечивают специализированные режимы доступа и работают с опцией ECC. Доступно в начале 26
Усовершенствованный BAP предоставляет настраиваемый интерфейс для оптимизации внутрисистемного тестирования. Он также поддерживает протокол с малой задержкой для настройки контроллера памяти BIST, выполнения тестов Go/NoGo и мониторинга состояния «пройден» или «не пройден».
Алгоритмы тестирования памяти могут быть жестко закодированы в контроллер Tessent MemoryBist, а затем применены к каждой памяти с помощью управления во время выполнения. Это позволяет выбирать более короткие алгоритмы тестирования по мере развития производственного процесса.
Опция восстановления Tessent MemoryBist устраняет сложности и затраты, связанные с внешними процессами ремонта. Он тестирует и постоянно восстанавливает все неисправные модули памяти в чипе, практически не используя внешних ресурсов.
Посмотрите, как Этьен Расин, менеджер по продуктам Tessent, рассказывает о том, как Tessent MemoryBist может помочь повысить качество тестирования, минимизировать время тестирования, повысить производительность и восстановить память благодаря гибкой архитектуре.
Узнайте, как использование программного обеспечения Tessent позволяет соответствовать новым стандартам и нормативным требованиям, предлагая полный набор комплексных решений, отвечающих требованиям современных автомобильных микросхем.
В этом документе описываются преимущества использования архитектуры общей шины для тестирования и восстановления памяти в ядрах iPS и представлена автоматизация, доступная в Tessent MemoryBist.
В этом тематическом исследовании описывается, как компания ON Semiconductor использовала иерархический поток Tessent MemoryBist для сокращения времени вставки BIST в память в 6 раз.
