Tessent LogicBIST
Tessent LogicBist — ведущее в отрасли встроенное решение для самотестирования для тестирования цифровых логических компонентов интегральных схем. Это идеальное решение для тестирования критически важных для безопасности устройств, таких как микросхемы, используемые в автомобилестроении и медицине.
Почему стоит отправить Tessent LogicBist?
Tessent LogicBist эффективно интегрируется с Tessent MissionMode и Tessent TestKompress для создания полного внутрисистемного и производственного тестового решения для критически важных с точки зрения безопасности устройств.
Улучшает тестовый охват
Технология контрольных точек Tessent VersaPoint, разработанная для гибридных приложений TK/LBIST, одновременно улучшает количество шаблонов ATPG и логическую тестируемость BIST, улучшая охват LBIST на 2-4%.
Удовлетворяет время внутрисистемного тестирования
Технология Observation Scan (OST) позволяет отслеживать данные цепей в каждом цикле смены, а не только при съемке, но и значительно сокращает количество паттернов, необходимое для достижения целевого логического тестового покрытия BIST.
Повышает эффективность тестирования
Tessent Hybrid TK/LBIST эффективно сочетает логическую архитектуру Tessent TestKompress и LogicBist для улучшения качества тестирования, избегая потери площади и используя преимущества сжатия ATPG и логического BIST.
Infineon сокращает время тестирования LBIST до функциональной безопасности
В этой презентации Дэниел Тилле из Infineon демонстрирует использование LogicBist с технологией Observation Scan, которая, как доказано, значительно сокращает время тестирования встроенной логической логики (LBIST) для микроконтроллеров Infineon Automotive (MCU).
