Непрерывное тестирование и мониторинг устройств необходимы для обеспечения оптимальной производительности, надежности и безопасности на протяжении всей их эксплуатации. Tessent In-System Test позволяет применять высококачественные детерминированные тестовые шаблоны для внутрисистемного и полевого тестирования в течение жизненного цикла вашего чипа.
Tessent In-System Test предоставляет встроенное аппаратное обеспечение и необходимое программное обеспечение для применения высококачественных детерминированных тестовых шаблонов при одновременном сокращении времени тестирования по сравнению с традиционной логикой BIST.
Внутрисистемное детерминированное тестирование позволяет изменять шаблоны тестирования по мере появления новых дефектов и моделей неисправностей или изменения содержания тестов.
Встроенный контроллер тестирования получает данные с интерфейсов шины, управляя внутренней шинной сетью Streaming Scan Network для передачи пакетов данных сканирования к ядрам для тестирования, сокращая время тестирования и улучшая профиль питания во время тестирования.
Повторно использует существующую инфраструктуру тестирования на кристалле для выявления скрытых, периодических, случайных или связанных с возрастом дефектов в течение срока службы продукта, обеспечивая повторное использование шаблонов на основе IJTAG и SSN для внутрисистемных приложений.
Предоставляет полностью автоматизированные аппаратные и программные возможности, необходимые для реагирования на старение и факторы окружающей среды, проявляющиеся в виде скрытых ошибок/повреждений данных. Тестовый контент может быть изменен по мере изменения требований к тестированию.
Tessent In-System Test (IST), выпущенный на ITC 2024, дополняет сеть Tessent Streaming Scan Network (SSN) и расширяет ее возможности использования в системной и полевой среде, расширяя тем самым передовые технологии, предоставляемые Tessent SSN. Разработчики могут применять шаблоны встроенных детерминированных тестов (EDT), созданные с помощью программного обеспечения Tessent SSN, через шину SSN непосредственно с помощью встроенного тестового контроллера.
Tessent In-System Test объединяет внутрисистемный детерминированный тест (IS-EDT) с сетью Tessent Streaming Scan Network, чтобы пользователи могли запускать детерминированные шаблоны в системе. Хотя спрос на паттерны IS-EDT крайне важен в автомобильной промышленности, эта технология также приносит пользу проектам центров обработки данных и сетей. В этом документе описывается, как Tessent In-System Test отвечает требованиям внутрисистемного и полевого тестирования.
Узнайте, как использование программного обеспечения Tessent позволяет соответствовать новым стандартам и нормативным требованиям, предлагая полный набор комплексных решений, отвечающих требованиям современных автомобильных микросхем.
Узнайте больше о растущей роли инноваций в проектировании интегральных схем (ИС) в цифровой трансформации в этом информационном документе.
