Tessent DefectSim представляет собой симулятор дефектов на уровне транзистора для аналоговых, смешанных сигналов (AMS) и цифровых схем без сканирования. Он измеряет степень покрытия дефектов и устойчивость к дефектам и идеально подходит как для микросхем большого объема, так и для высоконадежных микросхем.
Повысьте безопасность, качество и время тестирования AMS. Tessent DefectSim заменяет ручную оценку тестового покрытия в цепях AMS, генерируя объективные данные, необходимые для внесения улучшений, необходимых для соблюдения стандартов качества и функциональной безопасности и целей тестового покрытия.
Основанный на методах впрыска дефектов на уровне транзисторов, используемых в TestKompress Cell-Aware ATPG для сканируемых цифровых схем, DefectSim подходит для промышленных схемных блоков, содержащих сотни или тысячи транзисторов.
Создайте сводную сводку с указанием степени вероятности возникновения дефектов, доверительного интервала и матрицу, в которой перечислены все дефекты, а также сведения о том, был ли он обнаружен с помощью неудовлетворительного тестового лимита или цифрового вывода.
Значительно сократите общее время моделирования по сравнению с моделированием производственных тестов и списков цепей с плоским извлечением в классическом SPICE на параллельных процессорах.
Мы оценили Tessent DefectSim на нескольких автомобильных микросхемах и пришли к выводу, что это высокоавтоматизированное и гибкое решение, которое позволяет усовершенствовать методы тестирования и проектирования для тестирования и позволяет значительно улучшить дефектоскопию аналоговых тестов.
Ознакомьтесь с ролью аналогового моделирования неисправностей в функциональной безопасности автомобилей и изучите проблемы, области применения, преимущества и влияние аналогового моделирования неисправностей на конструкцию микросхем и соответствие стандартам безопасности.
