Продукты Tessent

Tessent AnalogTest сокращает разработку и проверку шаблонов аналоговых тестов с нескольких месяцев разработки до нескольких часов разработки. Это наиболее эффективный способ максимального устранения дефектов при одновременном снижении стоимости испытаний.

Tessent In-System Test предоставляет встроенное аппаратное обеспечение и необходимое программное обеспечение для применения высококачественных детерминированных тестовых шаблонов при одновременном сокращении времени тестирования по сравнению с традиционной логикой BIST.

Обеспечьте детерминированное сканирование высочайшего качества с наименьшими затратами на производственные испытания, используя запатентованное встроенное сжатие для уменьшения объема тестовых данных и сокращения времени тестирования.

Автоматизируйте создание и внедрение оборудования, совместимого с IEEE 1838, и определите архитектуру тестового доступа IEEE для трехмерных стековых интегральных схем.

Сократите время разработки DFT и затраты на производственные испытания, разделив требования к DFT на уровне ядра и микросхемы с помощью Tessent Streaming Scan Network (SSN).

Обеспечьте комплексную автоматизацию и интеграцию тестирования, ремонта, отладки и определения характеристик встроенной памяти с помощью Tessent MemoryBist.

Обеспечьте соответствие стандарту ISO 26262 с помощью встроенного решения для самотестирования с идеальной логикой для критически важных для безопасности устройств, таких как микросхемы, используемые в автомобильной и медицинской технике.

Объедините автоматизацию и встроенную IP-сеть, чтобы проводить испытания и диагностику микросхем в любой момент функциональной эксплуатации автомобиля — фундаментальное требование стандарта ISO 26262.

Сократите усилия по внедрению DFT за счет оптимальной автоматизации потока Tessent Platform для иерархического DFT.

Повысьте уровни сжатия тестов до 4 раз, обеспечьте иерархический DFT, логическую готовность к BIST и вставку сканов с помощью Tessent ScanPro.

Упростите широкий спектр критически важных задач DFT с помощью этого нового программного обеспечения, разработанного для групп разработчиков микросхем.

Упростите процесс создания компактных тестовых наборов с высоким покрытием. Способность Tessent FastScan применяться практически к любому типу конструкции делает его самым универсальным решением ATPG из всех доступных.

Обеспечьте автоматизацию и интеграцию тестовых и измерительных IP-адресов, совместимых с IEEE 1687 IJTAG, из различных источников в конструкцию микросхемы.

Автоматизируйте добавление стандартной поддержки граничного сканирования IEEE 1149.1 к микросхемам любого размера и сложности, сокращая трудозатраты на разработку и сокращая время вывода продукта на рынок.

Моделируйте дефекты на уровне транзисторов в аналоговых, смешанных и несканируемых цифровых схемах, автоматизируя оценку покрытия для обеспечения соответствия стандартам качества, таким как ISO 26262.

Tessent IJTAG Pro значительно снижает затраты на тестирование, ускоряя загрузку/выгрузку шаблонов IJTAG, что крайне важно для микросхем, конструкций 2.5/3DIC и применимо к другим тестовым приложениям через Tessent SSN. Это улучшает IJTAG.

Применяйте технологии диагностики с учетом компоновки и ячеек для точной классификации и определения мест дефектов, вызывающих сбои во время производственных испытаний.

Ускорьте запуск тестов, отладку и определение характеристик микросхем устройств, содержащих тестовые структуры Tessent ATPG, EDT, BIST и/или IJTAG, в автоматизированной интерактивной среде.

Исключите шум из диагностических данных, чтобы определить основные причины, определить систематические ограничители производительности и выбрать лучшие устройства для анализа отказов.

Комплексное решение для отладки и трассировки RISC-V, состоящее из встроенных IP-адресов и программного обеспечения, обеспечивающее комплексные и эффективные возможности отладки и трассировки.

Комплексное функциональное решение для мониторинга поведения сложных SoC, включающее настраиваемые IP-адреса, API C++/Python и инструмент генерации подсистем, который может ускорить отладку, проверку и оптимизацию сложных SoC

Разрешите прикладному программному обеспечению, работающему на SoC, эффективно контролировать операции. Обеспечьте последовательную доработку и оптимизацию продуктов на основе данных, собранных в реальных условиях использования, а не только в лаборатории.

Обеспечьте высочайшее качество производственных испытаний с помощью решений Tessent. Максимально увеличьте количество обнаруженных физических дефектов в своем тестовом решении с нулевым уровнем дефектов.

Сократите риски и соблюдайте требуемые стандарты безопасности с помощью комплексных решений для системного тестирования и классификации неисправностей, которые гарантируют, что ваш продукт полностью соответствует критически важным для безопасности приложениям, для которых оно предназначено.

Внедрите комплексное решение безопасности для своего продукта IC, охватывающее аутентификацию, связь, защиту и управление жизненным циклом устройства в тестах, функциональных операциях и безопасности на системном уровне.

Диагностируйте и анализируйте неисправности и собирайте данные по отдельным возвратам клиентов или данным об объемах производства. Получите ценную обратную связь по проектированию и технологическим процессам, чтобы повысить надежность будущих процессов и проектов.