Позвольте прикладному программному обеспечению, работающему на системе на кристалле (SoC), контролировать свою работу с помощью Tessent Embedded Analytics. Продукты можно последовательно совершенствовать и оптимизировать на основе данных, собранных в реальных условиях использования.
Решение Tessent Embedded Analytics можно использовать для получения показателей работоспособности и работы на протяжении всего жизненного цикла SoC. Встроенное программное обеспечение на основе Tessent Embedded SDK может управлять интеллектуальными мониторами Tessent Embedded Analytics для создания автономной встроенной системы мониторинга.
Посмотрите, как Анкур Гупта (Ankur Gupta), вице-президент и генеральный директор Tessent, представляет информацию о проектировании на предмет тестируемости (DFT) и мониторинге надежных электронных систем в эксплуатации на ITC 2022.
Узнайте, как улучшить наблюдаемость системы в процессе эксплуатации с помощью телеметрии напряжения в реальном времени и функционального мониторинга.
Узнайте больше о влиянии длительной задержки и отладки сервера. Ознакомьтесь с подробными стратегиями программного обеспечения для предотвращения задержек и отладки производительности.
Ожидается, что новые многоядерные архитектуры SoC для приложений машинного обучения (ML) и искусственного интеллекта (AI) обеспечат значительное повышение энергоэффективности.
В этой статье рассматриваются основные тенденции, влияющие на технологические отрасли, и рассматривается, как Tessent Embedded Analytics может помочь оптимизировать производительность SoC, превратив сложность в конкурентное преимущество.
Сочетание функционального и параметрического мониторинга реального поведения сложных SoC обеспечивает новый мощный подход, облегчающий оптимизацию производительности во время разработки и в полевых условиях.
Настало время внедрить методы PLM в полупроводниковую промышленность, которую Siemens называет Silicon Lifecycle Solutions (SLS). В этом документе объясняются движущие силы, преимущества и описываются элементы платформы Tessent SLS.