Skip to main content
Эта страница переведена автоматически. Перейти к английской версии?
Электронный чип

Ускорьте отладку/оптимизацию SoC с помощью встроенного программного обеспечения

Узнайте, как встроенное программное обеспечение может стать превосходной альтернативой извлечению информации из встроенных мониторов

Видео

От DFT к мониторингу электронных систем в процессе эксплуатации

Откройте для себя решения Tessent Silicon Lifecycle Solutions: от проектирования, ориентированного на тестируемость (DFT) до мониторинга состояния надежных электронных систем в эксплуатации, в этой презентации Diamond, представленной Анкуром Гуптой из ITC.

Видео

Обнаружение, диагностика и отладка систем в процессе эксплуатации

Узнайте, как улучшить наблюдаемость системы в процессе эксплуатации с помощью телеметрии напряжения в реальном времени и функционального мониторинга.

Информационный документ

Улучшение наблюдаемости системы

Совместное решение, сочетающее физическую телеметрию на кристалле с помощью детектора падения Movellus Aeonic Insight™ с функциональными решениями для мониторинга от Tessent Embedded Analytics. Связывая эти инструменты с помощью аппаратного перекрестного запуска, система обеспечивает единое представление о том, что и почему произошло, напрямую сопоставляя определенные последовательности команд или активность шины с физическими событиями PDN, которые их вызвали.

Синий микросхема 3D
Информационный документ

Длительная задержка и отладка сервера

Узнайте больше о влиянии длительной задержки и отладки сервера. Ознакомьтесь с подробными стратегиями программного обеспечения для предотвращения задержек и отладки производительности.

Группа людей стоит перед большим экраном, на котором отображается график и текст о трендовых технологиях.

Узнайте больше