Автоматизированная обработка и поддержка формата Tessent для усовершенствованных моделей неисправностей представляют собой уникальное решение для повышения надежности высокопроизводительных и сложных микросхем.
Устраняйте неисправности, которые могут быть вызваны только функциональными паттернами, чтобы улучшить общий охват дефектов.
Увеличьте охват неисправностей, выходящий за рамки моделей структурных неисправностей.
Функциональная классификация неисправностей помогает проверить правильность работы и надежность цепей смешанных сигналов, таких как схемы безопасности и аналоговые блоки.
В то время как тестирование на основе сканирования ATPG имеет решающее значение для выявления низкоуровневых структурных неисправностей, функциональная классификация неисправностей помогает обеспечить сохранение общей функциональной целостности устройства и соответствие шаблонов тестирования условиям, в которых чип будет использоваться в реальных условиях. Такое сочетание структурного и функционального анализа неисправностей помогает разработать более комплексную и надежную стратегию тестирования.
Компания Siemens eda предлагает поддержку клиентов мирового уровня для этого симулятора FX и всех наших продуктов.
Академия верификации предоставляет навыки, необходимые для развития функциональных возможностей организации в области процессов верификации, обеспечивая методологический мост между ценностными предложениями высокого уровня и низкоуровневыми деталями.
Чтобы лучше понять передовые технологии функциональной верификации и способы их наиболее эффективного применения, посетите наш блог, где вы найдете информацию о концепциях, ценностях, стандартах, методологиях и примерах.
