Tessent Diagnosis
Folosind datele de defecțiune din testul de fabricație, modelele de testare de scanare și informațiile de proiectare, Tessent Diagnosis identifică locația și clasificarea defectului care cauzează defecțiunea.
De ce Diagnosticul Tessent?
Soluția Tessent Diagnosis identifică tipul și localizarea defectelor, stabilind fundamentul pentru analiza randamentului și a defecțiunilor bazate pe diagnostic.
Identificați cu precizie defectele și erorile de sincronizare
Utilizați tehnologia conștientă de aspect și conștientă de celule pentru a determina cel mai probabil mecanism de defecțiune al unui defect, locația logică și locația fizică.
Diagnosticul conștient de celule
Efectuați diagnosticarea la nivel de tranzistor pentru a identifica defectele din interiorul celulelor standard. Această capacitate utilizează același model de eroare conștient de celule utilizat pentru ATPG conștient de celule și funcționează cu orice tip de model.
Diagnosticarea lanțului de înaltă rezoluție
Îmbunătățiți diagnosticul cu> 1,5x pe nodurile avansate de proces (5nm și mai jos). Oferă o izolare precisă la nivel de tranzistor pentru defectele lanțului de scanare. Asigură că defectele punctelor profunde pot fi izolate cu precizie.
Corelați-vă cu analiza DFM
Rezultatele diagnosticului pot fi corelate cu rezultatele analizei DFM pentru a identifica caracteristicile critice de proiectare. Tessent Diagnosis poate citi bazele de date cu rezultate (RDB) de la Calibre.
Tehnologie de încredere
Tessent Diagnosis este lider de piață în tehnologia de diagnosticare a scanării cu cea mai mare rată de precizie. Peste 80% din rapoartele generate folosind Tessent Diagnosis au fost confirmate folosind un proces de analiză a defecțiunilor.
Îmbunătățiri ale diagnosticului lanțului cu tehnologiile Tessent
Jayant D'Souza, Senior Product Manager la Tessent vorbește despre utilizarea tehnologiei de diagnosticare în lanț de înaltă rezoluție a Tessent pentru a îmbunătăți randamentul pentru a satisface ferestrele de timp până la comercializare prin găsirea unor defecte mai sistematice și îmbunătățirea rezoluției cu până la 80%.
