Tessent MemoryBist oferă o soluție completă pentru testarea rapidă, diagnosticarea, repararea, depanarea și caracterizarea memoriilor încorporate. Folosind o arhitectură ierarhică flexibilă, auto-testul încorporat și auto-repararea pot fi integrate atât în nuclee individuale, cât și la nivel superior.
Tessent MemoryBist, un autotest încorporat în memorie lider în industrie, include un flux de automatizare unic cuprinzător, care oferă verificarea regulilor de proiectare, planificarea testelor, integrarea și verificarea, toate la nivel RTL sau port.
Tessent MemoryBist ECC îmbunătățește fiabilitatea, îmbunătățește calitatea testelor și protejează împotriva defectelor de îmbătrânire. Criteriile sale personalizabile de acceptare/eșec permit o combinație optimă de redundanță a memoriei și codul de corectare a erorilor.
Tessent MemoryBist NVM oferă testare și reparații flexibile, reduce costurile testelor de fabricație și îmbunătățește fiabilitatea. Algoritmii automatizați specifici NVM permit moduri de acces specializate și funcționează cu opțiunea ECC. Disponibil. începutul anului 26
BAP avansat oferă o interfață configurabilă pentru a optimiza testarea în sistem. De asemenea, acceptă un protocol cu latență scăzută pentru a configura controlerul BIST de memorie, pentru a executa teste Go/NoGo și pentru a monitoriza starea trecută/eșuată.
Algoritmii de testare a memoriei pot fi codificați în controlerul Tessent MemoryBist, apoi aplicați fiecărei memorii prin controlul timpului de rulare. Acest lucru vă permite să selectați algoritmi de testare mai scurți pe măsură ce procesul de fabricație se maturizează.
Opțiunea de reparare Tessent MemoryBist elimină complexitățile și costurile asociate fluxurilor de reparații externe. Testează și repară permanent toate memoriile defecte dintr-un cip fără resurse externe.
Urmăriți Etienne Racine, manager de produs Tessent, vorbind despre modul în care Tessent MemoryBist poate ajuta la maximizarea calității testelor, minimizarea timpului de testare, îmbunătățirea randamentului și repararea memoriilor cu arhitectura sa flexibilă.
Aflați cum utilizarea software-ului Tessent vă permite să vă aliniați la standardele și reglementările emergente, oferind în același timp un set complet de soluții complete pentru a răspunde cerințelor dezvoltărilor actuale ale circuitelor integrate auto.
Această lucrare descrie avantajele utilizării unei arhitecturi partajate de magistrală pentru testarea și repararea memoriilor în nucleele iPS și prezintă automatizarea disponibilă în Tessent MemoryBist.
Acest studiu de caz descrie modul în care ON Semiconductor a folosit fluxul ierarhic Tessent MemoryBist pentru a reduce timpul de inserție BIST al memoriei cu 6X.
