Tessent LogicBIST
Tessent LogicBist este cea mai importantă soluție de auto-testare încorporată din industrie pentru testarea componentelor logice digitale ale circuitelor integrate. Este o soluție de testare ideală pentru dispozitivele critice pentru siguranță, cum ar fi circuitele integrate utilizate în aplicații auto și medicale.
De ce Tessent LogicBist?
Tessent LogicBist se integrează eficient cu Tessent MissionMode și Tessent TestKompress pentru a crea o soluție completă de testare în sistem și fabricație pentru dispozitivele critice pentru siguranță.
Îmbunătățește acoperirea testelor
Proiectată pentru aplicații hibride TK/LBIST, tehnologia punctelor de testare Tessent VersaPoint îmbunătățește numărul de modele ATPG și testabilitatea logică BIST în același timp, îmbunătățind acoperirea LBIST cu 2% -4%.
Respectă timpul de testare în sistem
Prin observarea datelor circuitului la fiecare ciclu de schimbare, nu numai în captură, tehnologia de scanare a observației (OST) reduce semnificativ numărul de modele necesar pentru a atinge acoperirea testului BIST logic țintă.
Crește eficiența testelor
Tessent Hybrid TK/LBIST combină eficient arhitectura logică a Tessent TestKompress și LogicBist pentru a îmbunătăți calitatea testului, evitând în același timp orice penalizare a zonei, culegând beneficiile atât ale compresiei ATPG, cât și ale logicii BIST.
Infineon reduce timpul de testare LBIST la siguranța funcțională
În această prezentare, Daniel Tille de la Infineon arată utilizarea LogicBist cu tehnologia de scanare observare, care s-a dovedit că reduce drastic timpul de testare logică încorporată (LBIST) pentru microcontrolerele Infineon Automotive (MCU).
