Skip to main content
Această pagină este afișată prin traducere automată. Vizualizați în schimb în limba engleză?
Holul din centrul de date care prezintă servere de date în spatele ușilor de sticlă.
Tessent Advanced DFT

Tessent In-System Test

Testarea și monitorizarea continuă a dispozitivelor sunt necesare pentru a garanta performanțe optime, fiabilitate și siguranță pe tot parcursul funcționării acestora. Tessent In-System Test permite aplicarea modelelor de testare deterministă de înaltă calitate pentru testarea în sistem/pe teren pe parcursul ciclului de viață al cipului dvs.

De ce să folosiți Tessent In-System Test?

Tessent In-System Test oferă hardware-ul încorporat și software-ul necesar pentru a permite aplicarea modelelor de testare deterministe de înaltă calitate, reducând în același timp timpul de testare în comparație cu logica tradițională BIST.

Permite testul adaptiv

Testul determinist în sistem vă permite să modificați modelele de testare pe măsură ce apar noi defecte și modele de defecțiuni sau pe măsură ce nevoile conținutului testului se schimbă.

Funcționează cu Tessent SSN

Controlerul de testare din sistem preia date de la interfețele magistralei, conducând rețeaua de magistrală Streaming Scan Network intern pentru a aplica pachete de date de scanare nucleelor pentru testare, reducând timpul de testare și îmbunătățind profilul de putere în timpul testului.

Reutilizează modelele de testare

Reutilizează infrastructura de testare existentă pe cip pentru a viza defectele latente, intermitente, aleatorii sau legate de vârstă pe parcursul duratei de viață a produsului, permițând reutilizarea modelelor bazate pe IJTAG și SSN pentru aplicațiile din sistem.

Răspunde la erori de date silențioase

Oferă capacități hardware și software complet automatizate necesare pentru a răspunde la îmbătrânirea și factorii de mediu care se manifestă ca erori silențioase/corupție a datelor. Conținutul testului poate fi modificat pe măsură ce cerințele de testare evoluează.

Activarea modelelor de testare deterministă de înaltă calitate

Lansat la ITC 2024, Tessent In-System Test (IST) completează Tessent Streaming Scan Network (SSN) și își îmbunătățește capacitatea de a fi utilizat într-un mediu în sistem, în teren, extinzând astfel tehnologia avansată oferită de Tessent SSN. Proiectanții pot aplica modele de testare deterministă încorporată (EDT) generate folosind software-ul Tessent SSN prin magistrala SSN direct folosind controlerul de testare din sistem.

Folosind modele de testare deterministă de înaltă calitate

Tessent In-System Test integrează testul deterministic în sistem (IS-EDT) cu Tessent Streaming Scan Network pentru a permite utilizatorilor să ruleze modele deterministe în sistem. În timp ce cererea de modele IS-EDT este esențială în industria auto, această tehnologie beneficiază, de asemenea, de centrele de date și proiectele de rețea. Această lucrare prezintă modul în care Tessent In-System Test satisface nevoile de testare în sistem și în teren.

microcip strălucitor
centru de date

Urmăriți webinarul IST

Urmăriți webinarul la cerere Îmbunătățirea calității testelor în sistem cu Testul Deterministic In-System.

Află mai multe