O persoană stă în fața unui ecran mare care afișează un design abstract colorat.

Tessent Advanced DFT

Tessent BoundaryScan

Tessent BoundaryScan este o soluție completă pentru generarea și integrarea automată a infrastructurii de testare pe cip, scanarea limitelor și portul de acces de testare.

De ce Tessent BoundaryScan?

Logica Tessent BoundaryScan poate fi accesată pe toată durata de viață a IC, inclusiv testul de fabricație la toate nivelurile de pachete, depanarea siliciului și verificarea sistemului pentru a detecta defectele înainte de expediere, reducând costurile de asistență pe teren și sporind satisfacția clienților.

Scanare completă a limitelor și integrarea controlerului TAP

Generează și integrează automat codul RTL pentru controlerul TAP și celulele de scanare a limitelor în RTL de proiectare. Generează scripturi pentru sinteza logică, bancuri de testare de simulare și modele de testare pentru testul de fabricație.

Suportă mai multe formate

Scanarea Tessent Boundary acceptă celule de scanare a limitelor personalizate IEEE 1149.1 și testul I/O fără contact și are o opțiune pentru suportul de scanare a limitelor 1149.6.

Interoperabilitate IEEE 1687 IJTAG

Conectează automat rețelele și instrumentele IJTAG la controlerul TAP nou introdus și generează fișiere de limbă de conectivitate instrumentală rezultate. Testele I/O sunt generate în format Procedural Description Language (PDL).

Află mai multe

Prezentare

Scanare frontieră încorporată Tessent

Acest videoclip arată fluxul de implementare a Tessent Boundary Scan (1149.1) la nivelul superior și Tessent Embedded Boundary Scan la nivelul blocului fizic în Tessent Shell.

Schema plăcii de circuit cu blocuri colorate și linii de conectare reprezentând componente și căi electronice.

Conversia limbajului de scanare a limitelor Descrierea

În mai puțin de cinci minute, videoclipul arată cum se poate utiliza Tessent IJTAG pentru a converti cu ușurință un fișier BSDL (Boundary Scan Description Language) în echivalentul fișierului ICL (Instrument Connectivity Language).

O diagramă care arată utilizarea scanării limitelor pentru generarea automată a modelului de testare.

Prezentare generală a tehnologiei

Utilizarea lanțului de scanare a limitelor în timpul ATPG

Acest videoclip demonstrează utilizarea scanării limitelor ca lanț comprimat sau necomprimat în timpul ATPG, astfel încât toți pinii dispozitivului testat (DUT) nu trebuie contactați.

Oamenii care se uită la învățarea automată sau diagrama de învățare profundă

Calea de învățare

Antrenament Tessent > Flux integrat Tessent

Aflați cum să implementați MBIST, BoundaryScan, IJTAG, Scan Insertion și TestKompress în designul dvs. pentru a obține o calitate ridicată a testului folosind mai multe instrumente Tessent.