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Uma pessoa está de pé na frente de um grande ecrã a exibir um gráfico com uma linha vermelha.
Tessent Yield Learning

Tessent YieldInsight

O Tessent YieldInsight analisa estatisticamente os dados de diagnóstico para identificar e separar os limitadores de rendimento sistemáticos antes que qualquer análise de falha seja feita. A Tessent YieldInsight é especializada para compreender e identificar a perda de rendimento dos dados dos testes de varredura e torna os resultados do diagnóstico de volume acionáveis.

Porquê Tessent YieldInsight?

Usando técnicas especializadas de mineração de dados e análise estatística, o Tessent YieldInsight elimina o ruído dos dados de diagnóstico para determinar as causas subjacentes, identificar limitadores de rendimento sistemáticos e selecionar os melhores dispositivos para análise de falhas.

Identificar limitadores de rendimento ocultos

O Tessent YieldInsight identifica a causa da perda sistemática de rendimento e fornece orientação através do processo de seleção de matrizes para análise de falhas.

Remover o ruído dos resultados do diagnóstico

A tecnologia de deconvolução de causa raiz (RCD) remove o ruído dos resultados do diagnóstico e determina as causas subjacentes. Seleciona e filtra populações de morrem fracassadas, agrupando mortas que estão a falhar por razões semelhantes.

Funciona com Tessent Diagnosis

Analisa os resultados do diagnóstico com reconhecimento de layout e reconhecimento de células do Tessent Diagnosis Diagnostics para identificar e separar limitadores de rendimento sistemáticos antes que qualquer análise de falha seja feita, eliminando a necessidade de localização física dispendiosa.

Webinar

Uma nova tecnologia de cadeia de varredura reversível

Organizado pela ASM International, este webinar conjunto entre a Siemens EDA e a Qualcomm destaca:

  • Motivação para usar o diagnóstico em cadeia na rampa de rendimento
  • Visão geral do diagnóstico de cadeia, cadeia reversível
  • Tecnologia de cadeia reversível e diagnóstico
  • Implementação de cadeias reversíveis
  • Resultados de silício do chip de teste
 Close-up de um chip de processador numa placa de circuito com fundo azul.

Saber mais