O Tessent Silicon Executable (TSE) consegue um custo de teste mais baixo, preparação de padrões mais rápida e depuração e diagnóstico acelerados usando interfaces de alta velocidade e conhecimento de design incorporado.
O TSE utiliza PCIe e USB para obter maior largura de banda em relação às interfaces digitais típicas, utilizando o In-System Test e a Streaming Scan Network (SSN) para fornecer um mecanismo de acesso de teste integrado e eficiente.
O TSE lê padrões escritos pela Tessent Shell diretamente, eliminando a conversão de padrões para o testador e 100% de reutilização de padrões no ATE, SLT e bancada, produzindo ganhos de produtividade para o design testar.
O TSE compreende e reconfigura totalmente o SSN; a identificação do núcleo com falha, o novo teste do núcleo e os registos de falhas do Equipamento de Teste Automatizado gerados automaticamente podem ser lidos diretamente pelo Tessent Diagnosis para uma análise rápida.
O software foi concebido para uma entrega ideal de padrões de protocolo, minimizando a sobrecarga com uma arquitetura multi-threaded. Trabalhando em parceria com os principais fornecedores de ATE, funciona perfeitamente nos seus ambientes de teste, incluindo suporte para vários locais.
Alterar e capturar as principais partes predefinidas dos padrões de teste. Ideal para variar parâmetros no dispositivo e capturar leituras do instrumento. O que anteriormente exigia vários padrões agora pode ser alcançado com parâmetros aplicados no momento do teste no testador, simplificando o processo de design para testador.
O TSE vem com a capacidade de mascarar a contribuição principal do OCComp em grupos de status SSN, dados de padrões de patch, reordenar e remover cargas úteis e mapear falhas para instâncias principais com o OcComp e o tester compare. Tudo isso pode ser feito a partir do programa de teste sem voltar a projetar novos padrões.
