O Tessent MemoryBIST fornece uma solução completa para teste rápido, diagnóstico, reparação, depuração e caracterização de memórias incorporadas. Aproveitando uma arquitetura hierárquica flexível, o autoteste integrado e a auto-reparação podem ser integrados em núcleos individuais, bem como no nível superior.
O Tessent MemoryBIST, um autoteste integrado de memória líder do setor, inclui um fluxo de automação excepcionalmente abrangente que fornece verificação de regras de projeto, planeamento de teste, integração e verificação, tudo ao nível RTL ou porta.
O Tessent MemoryBIST ECC aumenta a fiabilidade, melhora a qualidade do teste e protege contra defeitos de envelhecimento. Os seus critérios de pass/falha personalizáveis permitem uma combinação ideal de redundância de memória e código de correcção de erros.
O Tessent MemoryBIST NVM fornece testes e reparos flexíveis, diminui os custos de teste de fabrico e aumenta a fiabilidade. Os algoritmos automatizados específicos de NVM permitem modos de acesso especializados e funcionam com a opção ECC. Disponível. início dos 26
O BAP avançado fornece uma interface configurável para otimizar os testes no sistema. Também suporta um protocolo de baixa latência para configurar o controlador de memória HIST, executar testes Go/NoGo e monitorizar o estado de pass/falha.
Os algoritmos de teste de memória podem ser codificados no controlador Tessent MemoryBIST e, em seguida, aplicados a cada memória através do controlo do tempo de execução. Isto permite-lhe selecionar algoritmos de teste mais curtos à medida que o processo de fabrico amadurece.
A opção de reparação Tessent MemoryBIST elimina as complexidades e os custos associados aos fluxos de reparação externos. Testa e repara permanentemente todas as memórias defeituosas num chip utilizando praticamente nenhum recurso externo.
Veja Etienne Racine, Gestor de Produto da Tessent, falar sobre como o Tessent MemoryBIST pode ajudar a maximizar a qualidade do teste, minimizar o tempo de teste, melhorar o rendimento e reparar memórias com a sua arquitetura flexível.
Saiba como a utilização do software Tessent permite-lhe alinhar com padrões e regulamentos emergentes, oferecendo um conjunto completo de soluções de ponta a ponta para atender aos requisitos dos desenvolvimentos atuais de IC automóvel.
Este artigo descreve as vantagens de usar uma arquitetura de barramento partilhado para testar e reparar memórias dentro dos núcleos IPs e apresenta a automação disponível no Tessent MemoryBIST.
Este estudo de caso descreve como a ON Semiconductor usou o fluxo hierárquico Tessent MemoryBIST para reduzir o tempo de inserção do HIST da memória em 6X.
