Tessent LogicBIST
A Tessent LogicBIST é a solução de autoteste integrada líder do setor para testar os componentes lógicos digitais de circuitos integrados. É uma solução de teste ideal para dispositivos críticos de segurança, como ICs usados em aplicações automotivas e médicas.
Porquê Tessent LogicBIST?
O Tessent LogicBIST integra-se eficientemente com o Tessent MissionMode e o Tessent TestKompress para criar uma solução completa de teste no sistema e de fabrico para dispositivos críticos de segurança.
Melhora a cobertura do teste
Projetada para aplicações híbridas TK/LBIST, a tecnologia de ponto de teste Tessent VersaPoint melhora a contagem de padrões ATPG e a testabilidade lógica do BIST ao mesmo tempo, melhorando a cobertura LBIST em 2% -4%.
Cumpre o tempo de teste no sistema
Ao observar os dados do circuito em cada ciclo de deslocamento, não só na captura, a Tecnologia de Varredura de Observação (OST) reduz significativamente a contagem de padrões necessária para atingir a cobertura do teste de BIST lógico alvo.
Aumenta a eficiência do teste
O Tessent Hybrid TK/LBIST combina eficientemente a arquitectura lógica do Tessent TestKompress e LogicBist para melhorar a qualidade do teste, evitando qualquer penalização de área, colhendo os benefícios tanto da compressão ATPG como da lógica do HIST.
Infineon reduz o tempo de teste LBIST para segurança funcional
Nesta apresentação, Daniel Tille da Infineon mostra o uso do LogicBist com a tecnologia de varredura de observação, que comprovadamente reduz drasticamente o tempo de teste de autoteste integrado lógico (LBIST) para os microcontroladores Infineon Automotive (MCUs).
