Testes e monitorização contínuos dos dispositivos são necessários para garantir o melhor desempenho, fiabilidade e segurança durante toda a sua operação. O Tessent In-System Test permite a aplicação de padrões de teste determinísticos de alta qualidade para testes no sistema/em campo durante o ciclo de vida do seu chip.
O Tessent In-System Test fornece o hardware incorporado e o software necessário para permitir a aplicação de padrões de teste determinísticos de alta qualidade enquanto reduz o tempo de teste em comparação com o BIST lógico tradicional.
O teste determinístico no sistema permite-lhe alterar os padrões de teste à medida que surgem novos defeitos e modelos de falha ou à medida que as necessidades de conteúdo de teste mudam.
O controlador de teste no sistema busca dados de interfaces de barramento, conduzindo internamente a rede de barramento Streaming Scan Network para aplicar pacotes de dados de varredura a núcleos para teste, diminuindo o tempo de teste e melhorando o perfil de energia durante o teste.
Reutiliza a infra-estrutura de teste no chip existente para atingir defeitos latentes, intermitentes, aleatórios ou relacionados com a idade durante a vida útil do produto, permitindo a reutilização de padrões baseados em IJTAG e SSN para aplicações no sistema.
Oferece capacidades de hardware e software totalmente automatizadas necessárias para responder a fatores ambientais e envelhecido que se manifestam como Erros/Corrupção de Dados Silenciosos. O conteúdo do Test pode ser alterado à medida que os requisitos de teste evoluem.
Lançado na ITC 2024, o Tessent In-System Test (IST) complementa a Tessent Streaming Scan Network (SSN) e aumenta a sua capacidade de ser utilizado num ambiente no sistema, em campo, alargando assim a tecnologia avançada que o Tessent SSN fornece. Os designers podem aplicar padrões de teste determinístico incorporado (EDT) gerados usando o software SSN Tessent através do barramento SSN diretamente usando o controlador de teste no sistema.
O Tessent In-System Test integra o teste determinístico no sistema (IS-EDT) com a Tessent Streaming Scan Network para permitir que os utilizadores executem padrões determinísticos no sistema. Embora a procura de padrões IS-EDT seja crítica na indústria automóvel, esta tecnologia também beneficia os projetos de centros de dados e redes. Este artigo descreve como o Tessent In-System Test atende às necessidades de testes no sistema e em campo.
Saiba como a utilização do software Tessent permite-lhe alinhar com padrões e regulamentos emergentes, oferecendo um conjunto completo de soluções de ponta a ponta para atender aos requisitos dos desenvolvimentos atuais de IC automóvel.
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