Solutions de Test Tessent

O Tessent AnalogTest reduz o desenvolvimento e verificação de padrões de teste analógico dos meses de engenharia para as horas de engenharia. É a maneira mais eficaz de maximizar a cobertura de defeitos enquanto reduz o custo do teste.

O Tessent In-System Test fornece o hardware incorporado e o software necessário para permitir a aplicação de padrões de teste determinísticos de alta qualidade enquanto reduz o tempo de teste em comparação com o BIST lógico tradicional.

Forneça o teste de varredura determinística da mais alta qualidade com o menor custo de teste de fabricação, usando a compressão patenteada no chip para reduzir o volume de dados de teste e reduzir o tempo de teste.

Automatize a geração e inserção de hardware compatível com IEEE 1838 e defina a arquitectura de acesso de teste IEEE para circuitos integrados empilhados 3D.

Reduza o tempo de desenvolvimento do DFT e o custo do teste de fabricação, desacoplando os requisitos de DFT de nível de núcleo e de chip com a Tessent Streaming Scan Network (SSN).

Permita uma automatização abrangente e integração de teste, reparação, depuração e caracterização de memórias incorporadas com o Tessent MemoryBIST.

Permita a conformidade com a ISO 26262 com a solução de autoteste integrada de lógica ideal para dispositivos críticos de segurança, como ICs usados em aplicações automotivas e médicas.

Combine automação e IP no chip para permitir o teste e diagnóstico IC a qualquer momento durante a operação funcional de um veículo — um requisito fundamental da norma ISO 26262.

Reduza o esforço de implementação de DFT com uma automação ideal do fluxo da Tessent Platform para DFT hierárquico.

Melhore os níveis de compressão de teste até 4X, habilite o DFT hierárquico, a prontidão lógica do HIST e a inserção de análise com o Tessent ScanPro.

Simplifique uma ampla gama de tarefas críticas de DFT com este novo software desenvolvido para equipas de design de IC.

Simplifique o processo de geração de conjuntos de teste compactos de alta cobertura. A capacidade do Tessent FastScan de ser aplicado a quase qualquer tipo de design torna-o a solução ATPG mais versátil disponível.

Fornecer automação e integração para IP de teste e instrumentação compatível com IEEE 1687 IJTAG de várias fontes em um projeto de IC.

Automatize a adição do suporte de varredura de limites padrão IEEE 1149.1 a ICs de qualquer tamanho ou complexidade, reduzindo o esforço de desenvolvimento e melhorando o tempo de colocação no mercado.

Simule defeitos no nível do transistor para circuitos digitais analógicos, de sinal misto e sem varredura, automatizando a avaliação da cobertura para ajudar a cumprir padrões de qualidade como a ISO 26262.