Otimize a segurança

Obtenha o teste de varredura determinística da mais alta qualidade com o menor custo de teste de fabricação, usando compressão patenteada no chip para reduzir o volume de dados de teste e reduzir o tempo de teste.

Reduza o tempo de desenvolvimento do projeto para testabilidade (DFT) e o custo do teste de fabricação, desacoplando os requisitos de DFT de nível de núcleo e nível de chip.

Operar uma infra-estrutura inteligente e funcional de monitorização e análise para o sistema em chip (SoC) com propriedade intelectual de silício (IP) e software.

Fornece automação e integração para IP de teste e instrumentação compatível com IEEE 1687 IJTAG de várias fontes em um projeto de IC.

Garanta a conformidade ISO26262 com a solução de autoteste integrada de lógica ideal para dispositivos críticos de segurança, como ICs usados em aplicações automotivas e médicas.

Garanta a qualidade, melhore a segurança, otimize o desempenho e aumente a fiabilidade incorporando pequenos módulos diretamente no seu sistema no chip (SoC), permitindo a observação não intrusiva do que está a acontecer no seu projeto.

Leia como um número crescente de normas e regulamentos dentro do ecosystem automóvel prometem poupar custos de desenvolvimento, defendendo-se dos ciberataques.

Obtenha um resumo do AESIN e veja o nosso vídeo sobre os nossos resultados Secure-CAV.