Garanta a qualidade

Obtenha o teste de varredura determinística da mais alta qualidade com o menor custo de teste de fabricação, usando compressão patenteada no chip para reduzir o volume de dados de teste e reduzir o tempo de teste.

Reduza o tempo de desenvolvimento do projeto para testabilidade (DFT) e o custo do teste de fabricação, desacoplando os requisitos de DFT de nível de núcleo e nível de chip.

Superar as limitações de qualidade das metodologias tradicionais de DFT. Alveje-se defeitos nos ICs nos níveis de transistor e interconexão com a nossa geração automática de padrões de teste (ATPG) de nível automóvel.

Alcance uma automatização abrangente e integração de teste, reparação, depuração e caracterização de memórias incorporadas.

Satisfazer os requisitos dos ICs para o mercado de eletrónica automóvel em rápido crescimento e satisfazer as exigências dos novos mercados e tecnologias.

Simule defeitos no nível do transistor para circuitos digitais analógicos, de sinal misto e sem varredura. Cumprir padrões de qualidade como ISO26262 com avaliação de cobertura automatizada.

Lee Harrison, Diretor de Marketing de Produto da Tessent, fala sobre os autocarros da Streaming Scan Network (SSN) e a próxima geração de tecnologia de design para teste nesta entrevista à Electronics Weekly.

Saiba mais sobre as tendências de segurança cibernética automóvel e o futuro da segurança da tecnologia de mobilidade. Descubra como a Siemens EDA representa uma escolha inteligente para as empresas automóveis dentro do ecosystem.

Garanta a qualidade, melhore a segurança, otimize o desempenho e aumente a fiabilidade incorporando pequenos módulos diretamente no seu sistema no chip (SoC), permitindo a observação não intrusiva do que está a acontecer no seu projeto.

Leia como um número crescente de normas e regulamentos dentro do ecosystem automóvel prometem poupar custos de desenvolvimento, defendendo-se dos ciberataques.